Warszawa: Źródło jonów GA do Mikroskopu Hitachi FiB-SEM NB5000
Numer ogłoszenia: 472982 - 2013; data zamieszczenia: 19.11.2013
OGŁOSZENIE O ZAMIARZE ZAWARCIA UMOWY - Dostawy

SEKCJA I: ZAMAWIAJĄCY

I. 1) NAZWA I ADRES: Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej, ul. Wołoska 141, 02-507 Warszawa, woj. mazowieckie, tel. 22 2348729, 2348741, faks 22 2348514

I. 2) RODZAJ ZAMAWIAJĄCEGO: Uczelnia publiczna.

SEKCJA II: PRZEDMIOT ZAMÓWIENIA

II.1) Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego: Źródło jonów GA do Mikroskopu Hitachi FiB-SEM NB5000.

II.2) Rodzaj zamówienia: Dostawy.

II.3) Określenie przedmiotu oraz wielkości lub zakresu zamówienia: Przedmiotem zamówienia jest dostawa źródła jonów GA do Mikroskopu Hitachi FiB-SEM NB5000: źródło jonów GA oraz przesłona obiektywowa 0.03-0.03-0.05-0.05..

II.4) Wspólny Słownik Zamówień (CPV): 38.51.00.00 - Mikroskopy .

II.5) Szacunkowa wartość zamówienia (bez VAT): jest mniejsza niż kwoty określone w przepisach wydanych na podstawie art. 11 ust. 8 ustawy.

SEKCJA III: PROCEDURA

Tryb udzielenia zamówienia: Zamówienie z wolnej ręki

• 1. Podstawa prawna

  Postępowanie wszczęte zostało na podstawie art. 67 ust. 1 pkt 1 lit. a ustawy z dnia 29 stycznia 2004 r. - Prawo zamówień publicznych.

• 2. Uzasadnienie wyboru trybu

  art. 67 ust. 1 pkt 1 lit. a . Uzasadnienie: dostawa może być świadczona tylko przez jednego dostawcę z przyczyn technicznych o obiektywnym charakterze. Zakup części zamiennych do unikatowej aparatury naukowo-badawczej, jedynej tego typu w kraju, może być oferowany tylko przez autoryzowany serwis producenta. Tylko taki przedstawiciel ma dostęp do specyfikacji technicznej unikatowych części produkowanych tylko do konkretnego urządzenia o ściśle określonych parametrach, znanych tylko przez producenta

SEKCJA IV: UDZIELENIE ZAMÓWIENIA

NAZWA I ADRES WYKONAWCY KTÓREMU ZAMAWIAJĄCY ZAMIERZA UDZIELIĆ ZAMÓWIENIA

• Andrzej Wiśniewski COMEF APARATURA NAUKOWO-BADAWCZA, ul. Gdańska 2, 40-719 Katowice, kraj/woj. śląskie.