Poznań: Stanowisko do pomiaru chropowatości i konturu
Numer ogłoszenia: 355155 - 2008; data zamieszczenia: 08.12.2008
OGŁOSZENIE O ZAMÓWIENIU - dostawy

Zamieszczanie ogłoszenia: obowiązkowe.

Ogłoszenie dotyczy: zamówienia publicznego.

SEKCJA I: ZAMAWIAJĄCY

I. 1) NAZWA I ADRES: Instytut Obróbki Plastycznej , ul. Jana Pawła II 14, 61-139 Poznań, woj. wielkopolskie, tel. 061 6570720, faks 061 6570721.

• Adres strony internetowej zamawiającego: inop@inop.poznan.pl

I. 2) RODZAJ ZAMAWIAJĄCEGO: Inny: jednostka badawczo-rozwojowa.

SEKCJA II: PRZEDMIOT ZAMÓWIENIA

II.1) OKREŚLENIE PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA

II.1.1) Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego: Stanowisko do pomiaru chropowatości i konturu.

II.1.2) Rodzaj zamówienia: dostawy.

II.1.3) Określenie przedmiotu oraz wielkości lub zakresu zamówienia: Stanowisko do pomiaru chropowatości i konturu 1. Pomiar chropowatości: 1.1. Opis stanowiska: -minimalna długość pomiarowa X: co najmniej 60mm -prostoliniowość X: co najmniej 0,2 ?m na dł. 60 mm -próbkowanie w osi X: co najmniej 100 punktów na mikrometr -możliwość pomiaru przy dowolnie podawanych prędkościach przesuwu w zakresie 0,01 - 3 mm/s -kolumna pomiarowa: o wysokości co najmniej 800 mm, zmotoryzowana -granitowa płyta pomiarowa o wymiarach minimum 600x500 mm z rowkiem teowym -maksymalny zakres fizyczny głowicy do pomiaru chropowatości Z: nie mniej niż 1200 ?m -minimalna rozdzielczość Z głowicy do pomiaru chropowatości: nie więcej niż 3 nm -promień końcówki pomiarowej: nie większy od 5 ?m -możliwość pomiaru przy głowicy obróconej o 90 stopni wokół osi pionowej -możliwość obrotu głowicy pomiarowej na kolumnie co najmniej +/- 45 stopni -elektronika oparta o komputer PC z monitorem TFT i drukarką oraz standardowymi akcesoriami 1.2. Oprogramowanie sterujące i obliczające pracujące w języku polskim, w środowisku Windows i umożliwiające: -wykonanie profilu i analizę parametrów chropowatości R, falistości W i profilu niefiltrowanego P -wykonanie profilu i analizę parametrów falistości dominującej pierwszej WD1 i drugiej WD2 oraz udziału materiałowego Rk -tworzenie programów pomiarowych -pomiar wszystkich standardowo używanych parametrów i funkcji opisu nierówności powierzchni -powiększanie dowolnego wycinka profilu -tworzenie indywidualnych interfejsów użytkowników -wycinanie profilu -analizę Fouriera -pomiar odcinka pomiarowego o dowolnie wybranej długości w zakresie pomiarowym -analizę i wyznaczenie wybranych parametrów zarówno dla pełnego zarejestrowanego odcinka, jak również dla wybranej części zmierzonego profilu -wykorzystanie wszystkich powszechnie stosowanych filtrów stosowanych w pomiarach chropowatości -wprowadzenie tolerancji analizowanych parametrów -wyznaczenie krzywej udziału materiałowego -wyznaczenie krzywej rozkładu amplitudowego 2. Pomiar konturu 2.1. Opis stanowiska: -minimalna długość pomiarowa X: co najmniej 60 mm -prostoliniowość X: co najmniej 0,2 ?m na dł. 60 mm -próbkowanie w osi X: co najmniej 100 punktów na mikrometr -możliwość pomiaru przy dowolnie podawanych prędkościach przesuwu w zakresie 0,01 - 3 mm/s -maksymalny zakres fizyczny głowicy do pomiaru konturu Z: nie mniej niż 1200 ?m -możliwość podłączenia do oferowanej jednostki posuwowej głowicy o zakresie co najmniej 60 mm przy minimalnej rozdzielczości Z nie więcej niż 50 nm w całym zakresie pomiarowym, -możliwość dodatkowego pomiaru mikrokonturu głowicą standardowo wykorzystywaną do pomiaru chropowatości 2.2. Oprogramowanie sterujące i obliczające pracujące w języku polskim, w środowisku Windows i umożliwiające: -obliczanie cech geometrycznych: długości, promienie, kąty, itp. -tworzenie układu referencyjnego -tworzenie elementów wynikowych z cech geometrycznych (punktu przecięcia, linie teoretyczne, itp.) -importu profili nominalnych z plików typu CAD i porównania profilu zmierzonego z nominalnym -przeprowadzenie przez operatora kalibracji (zmiany współczynników) -tworzenia własnych programów pomiarowych -obliczanie elementów specjalnych,.

II.1.4) Wspólny Słownik Zamówień (CPV): 33.26.20.00 - 33.26.20.00 .

II.1.5) Czy dopuszcza się złożenie oferty częściowej: nie.

II.1.6) Czy dopuszcza się złożenie oferty wariantowej: nie.

II.1.7) Czy przewiduje się udzielenie zamówień uzupełniających: nie.

II.2) CZAS TRWANIA ZAMÓWIENIA LUB TERMIN WYKONANIA: Zakończenie: 31.12.2008.

SEKCJA III: INFORMACJE O CHARAKTERZE PRAWNYM, EKONOMICZNYM, FINANSOWYM I TECHNICZNYM

III.1) WARUNKI DOTYCZĄCE ZAMÓWIENIA

Informacja na temat wadium: nie dotyczy

III.2) WARUNKI UDZIAŁU

• Opis warunków udziału w postępowaniu oraz opis sposobu dokonywania oceny spełniania tych warunków: uczestnicy spełniający warunki zawarte w art.22 Pzp..
• Informacja o oświadczeniach i dokumentach, jakie mają dostarczyć wykonawcy w celu potwierdzenia spełniania warunków udziału w postępowaniu: aktualny odpis z właściwego rejestru, oświadczenie o spełnieniu warunków udziału.

SEKCJA IV: PROCEDURA

IV.1) TRYB UDZIELENIA ZAMÓWIENIA

IV.1.1) Tryb udzielenia zamówienia: przetarg nieograniczony.

IV.2) KRYTERIA OCENY OFERT

IV.2.1) Kryteria oceny ofert: najniższa cena.

IV.2.2) Wykorzystana będzie aukcja elektroniczna: nie.

IV.3) INFORMACJE ADMINISTRACYJNE

IV.3.1) Adres strony internetowej, na której dostępna jest specyfikacja istotnych warunków zamówienia: www.inop.poznan.pl.
Specyfikację istotnych warunków zamówienia można uzyskać pod adresem: j/w.

IV.3.4) Termin składania wniosków o dopuszczenie do udziału w postępowaniu lub ofert: 16.12.2008 godzina 10:00, miejsce: Siedziba zamawiającego, pokój 126 lub sekretariat.

IV.3.5) Termin związania ofertą: okres w dniach: 30 (od ostatecznego terminu składania ofert).

IV.3.13) Informacje dodatkowe, w tym dotyczące finansowania projektu/programu ze środków Unii Europejskiej: nie dotyczy.