Warszawa: Mikroskop świetlny z kamerą
Numer ogłoszenia: 223600 - 2010; data zamieszczenia: 26.07.2010
OGŁOSZENIE O UDZIELENIU ZAMÓWIENIA - Dostawy

Zamieszczanie ogłoszenia: obowiązkowe.

Ogłoszenie dotyczy: zamówienia publicznego.

Czy zamówienie było przedmiotem ogłoszenia w Biuletynie Zamówień Publicznych: tak, numer ogłoszenia w BZP: 180504 - 2010r.

Czy w Biuletynie Zamówień Publicznych zostało zamieszczone ogłoszenie o zmianie ogłoszenia: nie.

SEKCJA I: ZAMAWIAJĄCY

I. 1) NAZWA I ADRES: Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej, ul. Wołoska 141, 02-507 Warszawa, woj. mazowieckie, tel. 022 2348729, 2348741, faks 022 2348514.

I. 2) RODZAJ ZAMAWIAJĄCEGO: Uczelnia publiczna.

SEKCJA II: PRZEDMIOT ZAMÓWIENIA

II.1) Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego: Mikroskop świetlny z kamerą.

II.2) Rodzaj zamówienia: Dostawy.

II.3) Określenie przedmiotu zamówienia: Przedmiotem zamówienia jest dostawa mikroskopu metalograficznego o następujących cechach: -statyw mikroskopu metalograficznego w układzie odwróconym o konstrukcji odpornej na drgania, zapewniający pracę w świetle odbitym i możliwości instalacji układu do światła przechodzącego, z wbudowanym czytnikiem położenia miski obiektywowej, możliwością podpięcia zewnętrznego monitora LCD z funkcją odczytu położenia miski obiektywowej, parametrów oświetlenia i bezpośredniego podglądu obrazu z mikroskopu; -wszystkie pokrętła regulacyjne: przesłona polowa i aperturowa, dźwignią zmiany techniki badawczej Jasne/Ciemne Pole, wskaźnik położenia miski obiektywowej umieszczone na jednej (preferowana przednia) ścianie statywu; -port główny do podłączenia kamery; -nasadka okularowa trójpozycyjna z regulacją rozstawu źrenic; -układ oświetlenia do światła odbitego (EPI) o mocy minimum 50W z regulowaną i centrowaną przysłona polową oraz centrowaną przysłoną aperturową -lampa oświetlacza o mocy min. 50W z wbudowanym kolektorem oraz wbudowanym odbłyśnikiem z tyłu, zapewniająca intensywność na poziomie nie gorszym niż dla tradycyjnej lampy o mocy 100W; -układ oświetlenia do światłą odbitego z fabrycznie wbudowanym nierozbieralnym układem oświetlenia do jasnego i ciemnego pola (2 zwierciadła) i możliwością instalacji dwóch niezależnych źródeł oświetlenia i filtrów fluorescencyjnych; -przysłona aperturowa samoczynnie otwierana w czasie przełączania w układzie do światła odbitego na technikę ciemne pole; -w układzie oświetlacza EPI gniazda do montażu układu polaryzatora i analizatora i kompensatorów; -uniwersalny pryzmat do Nomarskiego dla obiektywów od 5x do minimum 100x -w układzie oświetlacza EPI wbudowane kołowe gniazdo filtrów (wbudowane przynajmniej 3 filtry); -miska obiektywowa minimum 5-cio pozycyjna uniwersalna z możliwością instalacji pryzmatu do kontrastu Nomarskiego oraz obiektywów jasnego i ciemnego pola, z systemem rejestracji położenia miski i obiektywów i możliwością odczytu położenia z poziomu oprogramowania; -stolik zmotoryzowany o zakresie ruchu minimum 100x70, wraz ze sterownikiem, możliwością sterowania z poziomu oprogramowania do analizy obrazu i zmotoryzowanym napędem w osi Z z krokiem nie gorszym niż 10nm, kontrolerem współpracującym po złączu USB i joystickiem z wyświetlaczem LCD wskazującym aktualne położenie stolika i osi Z; -wbudowany w statyw układ zasilania o mocy minimum 50W z płynną regulacją natężenia światła; -współosiowo ustawiona śruba makro/mikro z układem sprzęgła o dokładności pozycjonowania stołu na poziomie 0.1 mm/obrót; -Możliwość obserwacji w świetle odbitym w technikach Jasne/Ciemne Pole, Polaryzacja, kontrast Nomarskiego oraz możliwość rozbudowy o światło przechodzące o mocy min 100W w technikach (Jasne Pole, kontrast Nomarskiego, kontrast fazy) i techniki fluorescencyjne; -układ optyki korygowanej do nieskończoności; -obiektyw klasy Epi Plan Fluor dedykowane do pracy w świetle odbitym w technikach Jasne/Ciemne Pole i kontraście Nomarskiego o parametrach nie gorszych niż: #obiektyw 5X (NA/WD : 0.15/15.00 mm), #obiektyw 10X (NA/WD : 0.30/12.00 mm), #obiektyw 20X (NA/WD : 0.45/4.00 mm), #obiektyw 50X (NA/WD : 0.80/1.00 mm), #obiektyw 100X (NA/WD : 0.90/1.00 mm), -Możliwość rozbudowy o inne obiektywy do światła odbitego; -Wyposażenie mikroskopu w gniazdo do instalacji wzorców (np. wielkość ziarna, podziałka mikrometryczna) wprowadzanych w pole widzenia; -Rejestracja obrazu z wykorzystaniem kamery cyfrowej z oprogramowaniem o następujących cechach użytkowych: a) Matryca CCD o rozdzielczości nie mniejszej niż 5 mln efektywnych pikseli; b) Możliwość podłączenia obiektywów makro poprzez złącze C; c) Czas ekspozycji przynajmniej w zakresie 1/1000 - 60 sekund; d) Kontrola ekspozycji: Automatyczna; Ręczna; e) Możliwość wykonania Balansu Bieli; f) Możliwość wykonywania zdjęć poklatkowych; g) Cyfrowy zoom w zakresie przynajmniej 10% - 2000%; h) Pomiar ekspozycji z całego pola, oraz punktowy; i) Regulowany zakres pola pomiaru ekspozycji; j) Regulacja: Jasności, Kontrastu, Korekcji Gamma; k) Rozdzielczość zapisu: 2560x1920; 1280x960; 640x480 pikseli; l) Format zapisu (minimum): BMP, TIFF, JPEG; m) Przesył obrazu do komputera na żywo z szybkością określoną dla każdej rozdzielczości i nie mniejsza niż: 2560 x 1920 - 5 klatek/sekundę,1280 x 960 - 7 Klatek/sekundę, 640 x 480 - 10 Klatek/sekundę; n) Możliwość przesyłania obrazu do komputera za pomocą złącza USB 2.0; o) Wbudowany port Host USB do podłączenia z mikroskopem. Zapis i analiza obrazu zarejestrowanego przez kamerę z wykorzystaniem dostarczonej dedykowanej stacji roboczej z monitorem o przekątnej minimum 17 cali oraz preinstalowanego oprogramowania umożliwiającego: - Pełne sterowanie kamerą - rozdzielczości, balans bieli, wzmocnienia, sposób pomiaru ekspozycji; - Optyczne skanowanie 3D mikroskopem - zbieranie obrazów z dowolnej liczby sąsiadujących pól przy jednoczesnym pobieraniu stosu zdjęć w osi Z dla pojedynczego pola - obraz wielkoformatowy z kształtem powierzchni; - W menu sterowania kamera wbudowany zestaw gotowych ustawień kontrastu w tym dla światła odbitego w tym - Jasne pole, Ciemne pole, DIC, metalografia; - Zapis i podgląd na żywo we wszystkich rozdzielczościach oferowanych przez kamerę; - Możliwość prowadzenia pomiarów obrazu, dokonywanie przeliczeń na wybrane parametry stereologiczne; - Archiwizacja i wizualizacja wyników w postaci tabel i wykresów, - Pojedyncze (stop-klatka) i sekwencyjne pobieranie obrazu (klatki obrazu w ustalonych odstępach czasowych); - Możliwość składania obrazów wielkoformatowych próbek nie mieszczących się w polu widzenia danego obiektywu przy zachowaniu wszystkich parametrów optycznych, oraz w obrazie wielkoformatowym automatyczne obliczanie i kompensowanie w przypadku niezbyt dokładnego ustawienia następnego pola i wyświetlenie zakładki z ostatnim obrazem, wraz z funkcją kompensacji nieostrości w pojedynczym polu widzenia i składania zdjęć 3D; - Możliwość klasyfikowania obiektów po kolorze (min. 8 klas) z możliwością ich późniejszej automatycznej analizy; - Automatyczna analiza obrazu kolorowego w 256 odcieniach każdej składowej RGB i czarno-białego w 256 odcieniach szarości; - histogram jasności obrazu i jego wybranych fragmentów, - binaryzacja obrazu w reprezentacji przynajmniej RGB, - automatyczne i ręczne selekcjonowanie obiektów do pomiaru, - zliczanie obiektów (automatyczne i manualne), - automatyczne i manualne pomiary przynajmniej takich parametrów jak: pole powierzchni, długości, średnice (średnia, Fereta), obwód, kąt, środek ciężkości, wydłużenia, współczynników kształtu; - wykonywanie profil jasności wzdłuż linii prostej, dwu linii równoległych i krzywej, - edycja obrazu (wstawianie, kopiowanie, wycinanie, przesuwanie, obracanie obrazu i jego fragmentów, zoom, nanoszenie wskaźników, znaczników, belek skali), funkcje filtracji obrazu kolorowego i binarnego (wygładzanie, wyostrzanie, retusz, erozja, dylatacja, otwarcie, zamknięcie, czyszczenie, wypełnianie otworów, rozdzielanie sklejonych obiektów, filtracja obiektów o określonej jasności i inne), - łatwa kalibracja obrazu w jednostkach metrycznych w sposób ręczny i całkowicie automatyczny z wykorzystaniem stolika zmotoryzowanego, - automatyczna kontrola balansu bieli w całym polu, - kompensacja obrazu pod katem wybranego pola obrazu - znacznik, - statystyka przeprowadzonych pomiarów (średnia, odchylenie standardowe, minimum, maksimum i odpowiednie wykresy z ich dalszą edycją; liczba wielkości ze wspomnianą wyżej statystyką, gęstość i udział procentowy obiektów w polu lub wybranych polach), - zapis obrazu (przynajmniej formaty JPEG, BMP, TIFF), - wydruk obrazu z jego podglądem na obszarze papieru, - moduł 3D do składania i analizy obrazów 3D z funkcją automatycznego składania zdjęć o dużej głębi, pomiarów 3D i animacji składania obrazu w pojedynczym polu widzenia jak i również dla obszaru o powierzchni minimum 30 x 30 pól - praca w środowisku Windows XP i Vista 32 i 64 bit, oraz Windows 7. Gwarancja minimum 24 miesiące. W cenie musi być ujęta dostawa, montaż oraz podstawowe przeszkolenie z obsługi mikroskopu z przynależnymi elementami peryferyjnymi (lamera, oprogramowania do rejestracji i analizy obrazów).

II.4) Wspólny Słownik Zamówień (CPV): 38.63.40.00 - Mikroskopy optyczne .

SEKCJA III: PROCEDURA

III.1) TRYB UDZIELENIA ZAMÓWIENIA: Przetarg nieograniczony

III.2) INFORMACJE ADMINISTRACYJNE

• Zamówienie dotyczy projektu/programu finansowanego ze środków Unii Europejskiej: tak, projekt/program: Zakup finansowany ze środków Europejskiego Funduszu Rozwoju Regionalnego w ramach Programu Operacyjnego Innowacyjna Gospodarka.

SEKCJA IV: UDZIELENIE ZAMÓWIENIA

IV.1) DATA UDZIELENIA ZAMÓWIENIA: 23.07.2010.

IV.2) LICZBA OTRZYMANYCH OFERT: 1.

IV.3) LICZBA ODRZUCONYCH OFERT: 0.

IV.4) NAZWA I ADRES WYKONAWCY, KTÓREMU UDZIELONO ZAMÓWIENIA:

• Precoptic Co. Wojciechowscy Spółka Jawna, ul.Arkuszowa 60, 01-934 Warszawa, kraj/woj. mazowieckie.

IV.5) Szacunkowa wartość zamówienia (bez VAT): 184426,23 PLN.

IV.6) INFORMACJA O CENIE WYBRANEJ OFERTY ORAZ O OFERTACH Z NAJNIŻSZĄ I NAJWYŻSZĄ CENĄ

• Cena wybranej oferty: 170000,00

• Oferta z najniższą ceną: 170000,00 / Oferta z najwyższą ceną: 170000,00

• Waluta: PLN.