Warszawa: Spektrofotometr FTIR
Numer ogłoszenia: 131404 - 2009; data zamieszczenia: 04.05.2009
OGŁOSZENIE O ZAMÓWIENIU - dostawy

Zamieszczanie ogłoszenia: obowiązkowe.

Ogłoszenie dotyczy: zamówienia publicznego.

SEKCJA I: ZAMAWIAJĄCY

I. 1) NAZWA I ADRES: Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej , ul. Wołoska 141, 02-507 Warszawa, woj. mazowieckie, tel. 022 2348729, 2348741, faks 022 2348514.

I. 2) RODZAJ ZAMAWIAJĄCEGO: Uczelnia publiczna.

SEKCJA II: PRZEDMIOT ZAMÓWIENIA

II.1) OKREŚLENIE PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA

II.1.1) Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego: Spektrofotometr FTIR.

II.1.2) Rodzaj zamówienia: dostawy.

II.1.3) Określenie przedmiotu oraz wielkości lub zakresu zamówienia: Przedmiotem zamówienia jest dostawa na Wydział Inżynierii Materiałowej Politechniki Warszawskiej fabrycznie nowego spektrofotometru FTIR. Parametry techniczne wymagane: 1. Zakres spektralny, co najmniej 7800 - 350 cm-1; 2. Maksymalna rozdzielczość optyczna lepsza niż 0,4 cm-1; 3. Rozdzielczość nominalna ustawiana w zakresie 0,5-32 cm-1; 4. Szczelny i osuszany układ optyczny z okienkami KBr pokrywanymi BaF2 oddzielającymi optykę od przedziału próbek; 5. Podłączenia do opcjonalnego przedmuchu spektrometru i przedziału próbek osuszonym gazem; 6. Szumy mniejsze niż 1,3x10-5 Abs (peak-to-peak, pomiar 1 minuta przy rozdzielczości 4cm-1, detektor DLaTGS); 7. Interferometr justowany dynamicznie w trakcie skanowania z częstotliwością odpowiadającą częstotliwości przejść przez zero sygnału lasera nawet przy maksymalnej szybkości skanowania. Mechanizm dynamicznego justowania wykorzystujący wiązkę lasera He-Ne, padającą na trójpozycyjny detektor laserowy, do monitorowania i utrzymywania idealnego względnego położenia kątowego zwierciadeł interferometru; 8. Układ optyczny wykorzystujący monolityczne lustra wzorcowe; 9. Ogniskowanie wiązki centralnie w komorze pomiarowej aparatu; 10. Justowanie interferometru na maksimum energii z poziomu oprogramowania; 11. Ceramiczne trwałe źródło promieniowania z możliwością pracy w trybach: normalnym i ekonomicznym - poza czasem pomiaru; 12. Beamsplitter Ge/KBr; 13. Detektor DLaTGS; 14. Maksymalna szybkość skanowania nie gorsza niż 40 skanów/s przy rozdzielczości 16cm-1; 15. Precyzja długości fali: nie gorsza niż 0,01 cm-1; 16. Komunikacja spektrometru z komputerem przez szybkie złącze USB 2.0; 17. Panel sterowania na aparacie z przyciskami do szybkiego uruchomienia najczęściej wykonywanych, (co najmniej 5 przycisków w tym jeden programowalny przez użytkownika); 18. Zasilacz spektrometru umieszczony na zewnątrz aparatu eliminujący wprowadzanie wysokiego napięcia (prądu zmiennego 230V) do aparatu i zapewniający podwyższoną stabilność termiczną systemu; 19. Automatyczne rozpoznawanie przez system akcesoriów pomiarowych takich jak moduł do pomiarów transmisyjnych, przystawki ATR, przystawki rozproszeniowe i inne; 20. Wkłady osuszające w metalowej obudowie z możliwością regeneracji w suszarce. Wymiana wkładów osuszających bez zdejmowania obudowy aparatu. Wskaźnik poziomu wilgotności na wierzchu aparatu; 21. Wbudowana na stałe w aparat automatyczna przystawka do testowania spektrometru z kołem z wzorcami, sterowana z poziomu oprogramowania, zawierająca co najmniej następujące wzorce: - folia polistyrenowa o precyzyjnie podanej grubości; - filtr szklany typu NG11; 22. Przystawka pomiarowa do pomiarów transmisyjnych, wyposażona w co najmniej 3 szyny prowadzące do mocowania standardowych akcesoriów transmisyjnych. Przystawka powtarzalnie mocowana w przedziale pomiarowym i integrująca się z obudową spektrometru - po założeniu uszczelniająca drogę optyczną i jednocześnie włączona w system przedmuchu; 23. Zestaw do przygotowania i pomiaru próbek metodą pastylek w KBr; 24. Możliwość rozbudowy o drugi pełnowymiarowy przedział pomiarowy; 25. Sterowanie przez zewnętrzny komputer PC wchodzący w wyposażenie spektrometru FTIR, pracujący w systemie Windows. 32-bitowe oprogramowanie dostarczane przez producenta spektrometru kompatybilne z Windows XP Pro, Vista. Musi być w pełni kompatybilne z systemami operacyjnymi w języku polskim. Pełny program obsługi spektrometru co najmniej w języku polskim i angielskim. Automatyczny wybór wersji językowej przy logowaniu do Windows i przez wybór opcji regionalnych w panelu sterowania Windows. Musi zapewniać: - możliwość tworzenia i przeszukiwania bibliotek widm; - logowanie użytkowników z różnymi poziomami dostępu; - funkcję automatycznego doboru wzmocnienia sygnału; - podgląd widm zapisanych na dysku przed ich otwarciem (jak podgląd dokumentów w pakiecie Office); - moduł do tworzenia i wykonywania makroinstrukcji; - moduł spektralnej interpretacji widm; - automatyczną korekcję zawartości CO2 i pary wodnej przez oprogramowanie bez konieczności zbierania widm referencyjnych; - wyświetlanie widm w czasie rzeczywistym (w czasie pomiaru); - automatyczne wykonywanie testów jakości widm z informowaniem użytkownika m.in. o niepożądanych pasmach spektralnych w widmie tła, nieprawidłowym kształcie pasm, obecności pasm całkowicie absorbujących, nachyleniu linii podstawowej, zbyt małej energii interferogramu; - aktywną diagnostykę w trakcie pomiaru z ciągłym monitorowaniem stanu elementów systemu i wizualnym wskaźnikiem poprawnej pracy aparatu; - wydruki widm według dowolnie zdefiniowanych szablonów raportów: wbudowany edytor do tworzenia raportów według własnych szablonów; - archiwizowanie gotowych raportów w nieedytowalnych skoroszytach elektronicznych z funkcją przeszukiwania skoroszytów umożliwiającą szybkie dotarcie do każdego raportu; - funkcje przetwarzania i prezentacji widm: wyświetlanie wielu widm jednocześnie, nakładanie widm, powiększanie dowolnego fragmentu widma, zmianę formatu z absorbancji na % transmitancji oraz na odwrót, przekształcanie do innych formatów np. Kubelka-Munk, korekcję linii podstawowej, wygładzanie widma, odejmowanie widm, dekonwolucja, odejmowanie spektralne, wyznaczanie pochodnych; - funkcje analizy widm: znajdowanie i zaznaczanie pików, wyznaczanie absorbancji bezwzględnej oraz absorbancji netto, wyznaczanie pola powierzchni piku - bezwzględnego oraz netto, kursor spektralny; - moduł oprogramowania do analiz chemometrycznych obejmujący algorytmy analizy ilościowej i klasyfikacyjnej - co najmniej następujące: a) do analiz ilościowych: - Prawo Lamberta-Beera; - CLS (klasyczna metoda najmniejszych kwadratów). b) do analiz klasyfikacyjnych: - Search Standards (przeszukiwanie biblioteki wzorców z analizą korelacji, także dla pochodnych widm); - Similarity match (wektorowa analiza podobieństwa); - QC compare (analiza korelacyjna widm uśrednionych..

II.1.4) Wspólny Słownik Zamówień (CPV): 38.43.32.10 - Spektrometry emisyjne .

II.1.5) Czy dopuszcza się złożenie oferty częściowej: nie.

II.1.6) Czy dopuszcza się złożenie oferty wariantowej: nie.

II.1.7) Czy przewiduje się udzielenie zamówień uzupełniających: nie.

II.2) CZAS TRWANIA ZAMÓWIENIA LUB TERMIN WYKONANIA: Zakończenie: 30.06.2009.

SEKCJA III: INFORMACJE O CHARAKTERZE PRAWNYM, EKONOMICZNYM, FINANSOWYM I TECHNICZNYM

III.1) WARUNKI DOTYCZĄCE ZAMÓWIENIA

III.2) WARUNKI UDZIAŁU

• Opis warunków udziału w postępowaniu oraz opis sposobu dokonywania oceny spełniania tych warunków: O udzielenie zamówienia mogą ubiegać się wykonawcy, którzy spełniają warunki określone w art 22 ust 1 ustawy Prawo Zamówień Publicznych, oraz nie podlegają wykluczeniu z postępowania na podstawie art 24 ust 1 i 2 ustawy pzp. Ocena spełniania w/w warunków dokonana zostanie zgodnie z formułą: spełnia-nie spełnia, w oparciu o informacje zawarte w dokumentach i oświadczeniach stanowiących ofertę, zgodnie z SIWZ.
• Informacja o oświadczeniach i dokumentach, jakie mają dostarczyć wykonawcy w celu potwierdzenia spełniania warunków udziału w postępowaniu: W celu potwierdzenia, że wykonawca posiada uprawnienie do wykonywania określonej działalności lub czynności oraz nie podlega wykluczeniu na podstawie art. 24 ustawy z dnia 29 stycznia 2004 r. - Prawo zamówień publicznych z udziału w postępowaniu o zamówienie publiczne wykonawca składa następujące oświadczenia i dokumenty: 1. Dokumenty wymagane: - formularz ofertowy z wykorzystaniem wzoru- załącznik nr 1 - aktualny odpis z właściwego rejestru albo aktualne zaświadczenie o wpisie do ewidencji działalności gospodarczej, jeżeli odrębne przepisy wymagają wpisu do rejestru lub zgłoszenia do ewidencji działalności gospodarczej, wystawione nie wcześniej niż 6 miesięcy przed upływem terminu składania ofert - dokumenty potwierdzające posiadanie uprawnień/pełnomocnictw osób podpisujących ofertę, o ile fakt nie wynika z przedstawionych dokumentów rejestrowych, - koncesja, zezwolenie lub licencja, jeżeli ustawy nakładają obowiązek posiadania koncesji, zezwolenia lub licencji na podjęcie działalności gospodarczej w zakresie objętym zamówieniem publicznym zwanym dalej ZAMÓWIENIEM, - aktualne zaświadczenie właściwego naczelnika urzędu skarbowego oraz właściwego oddziału Zakładu Ubezpieczeń Społecznych lub Kasy Rolniczego Ubezpieczenia Społecznego potwierdzające odpowiednio, że wykonawca nie zalega z opłacaniem podatków, opłat oraz składek na ubezpieczenie zdrowotne lub społeczne, lub zaświadczenia, że uzyskał przewidziane prawem zwolnienie, odroczenie lub rozłożenie na raty zaległych płatności lub wstrzymanie w całości wykonania decyzji właściwego organu - wystawione nie wcześniej niż 3 miesiące przed upływem terminu składania ofert. W celu potwierdzenia, że wykonawca posiada niezbędną wiedzę i doświadczenie oraz dysponuje potencjałem technicznym i osobami zdolnymi do wykonania zamówienia w postępowaniu o zamówienie publiczne składa następujące dokumenty: -Wykaz wykonanych w okresie ostatnich trzech lat dostaw lub usług, a jeżeli okres prowadzenia działalności jest krótszy - w tym okresie, z podaniem ich wartości, przedmiotu, dat wykonania i odbiorców- załącznik numer: 2. W celu potwierdzenia, że wykonawca znajduje się w sytuacji ekonomicznej i finansowej zapewniającej wykonanie zamówienia w postępowaniu o zamówienie publiczne składa następujące dokumenty: -Polisę lub inny dokument ubezpieczenia potwierdzający, że wykonawca jest ubezpieczony od odpowiedzialności cywilnej w zakresie prowadzonej działalności gospodarczej.

SEKCJA IV: PROCEDURA

IV.1) TRYB UDZIELENIA ZAMÓWIENIA

IV.1.1) Tryb udzielenia zamówienia: przetarg nieograniczony.

IV.2) KRYTERIA OCENY OFERT

IV.2.1) Kryteria oceny ofert: cena oraz dodatkowe kryteria i ich znaczenie:

• 1 - Cena - 80
• 2 - serwis - 10
• 3 - gwarancja - 10

IV.2.2) Wykorzystana będzie aukcja elektroniczna: nie.

IV.3) INFORMACJE ADMINISTRACYJNE

IV.3.1) Adres strony internetowej, na której dostępna jest specyfikacja istotnych warunków zamówienia: http://www.ca.pw.edu.pl/zamowienia/.
Specyfikację istotnych warunków zamówienia można uzyskać pod adresem: Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej, Wołoska 141, 02-507 Warszawa, (pokój 206)..

IV.3.4) Termin składania wniosków o dopuszczenie do udziału w postępowaniu lub ofert: 18.05.2009 godzina 11:00, miejsce: Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej, Wołoska 141, 02-507 Warszawa, (pokój 206)..

IV.3.5) Termin związania ofertą: do 17.06.2009.

IV.3.13) Informacje dodatkowe, w tym dotyczące finansowania projektu/programu ze środków Unii Europejskiej: Zakup w ramach projektu MATLAS finansowanego w ramach Mechanizmu Finansowego Europejskiego Obszaru Gospodarczego (EOG) i Norweskiego Mechanizmu Finansowego 2004-2009.