rodzaj: WYROK
data dokumentu: 2013-03-20
rok: 2013
data dokumentu: 2013-03-20
rok: 2013
Powiązane tematy:
- dokumenty potwierdzające że oferowane dostawy, usługi, roboty budowlane odpowiadają wymaganiom określonym przez Zamawiającego (tzw. dokumenty przedmiotowe)
- oferta - niezgodna z treścią Specyfikacji istotnych warunków zamówienia lub z ustawą
- specyfikacja techniczna
- uzupełnianie oświadczeń, dokumentów, pełnomocnictw
- wyjaśnienia oświadczeń lub dokumentów
sygnatury akt.:
KIO 538/13
KIO 538/13
Komisja w składzie:
0: Przewodniczący – członek Krajowej Izby Odwoławczej: Barbara Bettman Protokolant: Paweł Nowosielski, Po rozpoznaniu na rozprawie w dniu 18 marca 2013 r. w Warszawie odwołania
0: Przewodniczący – członek Krajowej Izby Odwoławczej: Barbara Bettman Protokolant: Paweł Nowosielski, Po rozpoznaniu na rozprawie w dniu 18 marca 2013 r. w Warszawie odwołania
wniesionego w dniu 8 marca 2013 r. przez wykonawcę: Eurotek International Spółka z
ograniczoną odpowiedzialnością Al. Lotników 32/46, 02-668 Warszawa, w postępowaniu
o udzielenie zamówienia publicznego prowadzonym przez zamawiającego: Wrocławskie
Centrum Badań EIT + Sp. z o.o., ul. Stabłowicka 147, 54-066 Wrocław, przy udziale
wykonawcy:
Spectro-Lab Sp. z o.o. ul. Warszawska 100/102, 05-092 Łomianki, zgłaszającego
przystąpienie po stronie zamawiającego.
ograniczoną odpowiedzialnością Al. Lotników 32/46, 02-668 Warszawa, w postępowaniu
o udzielenie zamówienia publicznego prowadzonym przez zamawiającego: Wrocławskie
Centrum Badań EIT + Sp. z o.o., ul. Stabłowicka 147, 54-066 Wrocław, przy udziale
wykonawcy:
Spectro-Lab Sp. z o.o. ul. Warszawska 100/102, 05-092 Łomianki, zgłaszającego
przystąpienie po stronie zamawiającego.
orzeka:
1. Oddala odwołanie.
2.
Kosztami postępowania obciąża odwołującego: Eurotek International Spółkę z
ograniczoną odpowiedzialnością Al. Lotników 32/46, 02-668 Warszawa,
2.1.
zalicza na poczet kosztów postępowania odwoławczego kwotę 15 000,00 zł
(słownie: piętnaście tysięcy złotych zero groszy) uiszczoną przez odwołującego:
Eurotek International Spółkę z ograniczoną odpowiedzialnością Al. Lotników
32/46, 02-668 Warszawa, tytułem wpisu od odwołania,
Stosownie do art. 198a ust. 1 i 198b ust. 1 i 2 ustawy z dnia 29 stycznia 2004 r. - Prawo
zamówień publicznych (Dz. U. z 2010 r. Nr 113, poz. 759) na niniejszy wyrok - w terminie 7
dni od dnia jego doręczenia - przysługuje skarga za pośrednictwem Prezesa Krajowej Izby
Odwoławczej do Sądu Okręgowego we Wrocławiu.
Przewodniczący:
…………......…………
Sygn. akt: KIO 538/13
U z a s a d n i e n i e:
W postępowaniu o udzielenie zamówienia publicznego, prowadzonym w trybie w
przetargu nieograniczonego „Na dostawę wraz z montażem i uruchomieniem i instruktażem
personelu aparatury naukowo badawczej, fabrycznie nowej i kompletnej dla potrzeb
Laboratorium Spektroskopii Optycznej, z podziałem na 2 części zamówienia” (Dz. Urz. UE z
dnia 29 września 2012 r., 2012/S 188 – 309243), w dniu 8 marca 2013 r. zostało złożone w
formie pisemnej odwołanie w zakresie części I-ej zamówienia przez wykonawcę Eurotek
International Spółkę z ograniczoną odpowiedzialnością z siedzibą w Warszawie, w kopii
przekazane zamawiającemu w terminie ustawowym.
Wniesienie odwołania nastąpiło skutkiem powiadomienia w dniu 28 lutego 2013 r. o
wyborze najkorzystniejszej oferty w ww. postępowaniu, a także o odrzuceniu oferty
odwołującego z uwagi na rzekomy - w ocenie odwołującego fakt - nie odpowiadania jej treści
warunkom postawionym w SIWZ.
dowód: pismo zamawiającego z dnia 25 lutego 2013 r.
Odwołujący zarzucił zamawiającemu: Wrocławskiemu Centrum Badań EIT + Sp. z
o.o. naruszenie przepisów ustawy z dnia 29 stycznia 2004 r. Prawo zamówień publicznych
(Dz. U. Nr 113 z 2010 r., poz. 759 ze zm.), ( dalej ustawa Pzp), które miało istotny wpływ na
wynik postępowania, tj.: naruszenie art. 89 ust. 1 pkt. 2 Pzp w tym znaczeniu, że
zamawiający wadliwie przyjął, iż treść złożonej oferty nie odpowiada treści SIWZ.
Powołując się na naruszenie swego interesu w uzyskaniu zamówienia, odwołujący
wnosił o nakazanie zamawiającemu:
1. dokonania ponownego badania i oceny ofert, w konsekwencji, którego żądał wyboru
firmy Eurotek International Sp. z o.o. z siedzibą w Warszawie do realizacji objętego
odwołaniem zamówienia,
2. obciążenie
zamawiającego
kosztami
postępowania
stosownie
do
wyniku
postępowania odwoławczego,
3. przeprowadzenie dowodu z dokumentów wskazanych w niniejszym odwołaniu na
okoliczności wskazane w jego treści.
W uzasadnieniu zgłoszonych zarzutów i żądań odwołujący ponosił, że w
zawiadomieniu o wyborze najkorzystniejszej oferty zamawiający wskazał, że odrzucenie
oferty Eurotek International Sp. z o.o. jest spowodowane m.in. brakiem odniesienia się przez
odwołującego do pytania w jaki sposób będzie możliwe wykonanie pomiaru próbki o czasie
zaniku nie dłuższym niż 40 ps. przy użyciu zaproponowanego w ofercie detektora
Hamamatsu R928 o czasie odpowiedzi 1.2 ns. Ponadto, zamawiający podniósł, że
zademonstrowany przez odwołującego w odpowiedzi na pytania przykład pomiarowy (czas
zaniku - 49.9 ps) nie spełnia nadal wymogów zamawiającego określonych w SIWZ.
Co do wymogu powtarzalności nastawy „Reproducibility” 0,1 nm zamawiający
wskazał, że uzyskanie pięciu powtarzalnych zapisów pojedynczego pomiaru nie jest
dowodem, że specyfikacja urządzenia zapewnia w sposób trwały spełnienie warunku
zapisanego w SIWZ.
Zamawiający w uzasadnieniu zawiadomienia o odrzuceniu oferty podniósł ponadto,
że odwołujący nie dołączył do odpowiedzi na pytania zamawiającego karty katalogowej
produktu, potwierdzającej wymaganą w SIWZ rozdzielczość 0,1 nm spektralnej rozdzielności
danych.
dowód: pismo zamawiającego z dnia 25 lutego 2013 r. oraz z dnia 23 stycznia 2013 r.
wezwanie do uzupełnienia oświadczeń i dokumentów.
Odnosząc się do ww. zarzutów przedstawionych jako uzasadnienie odrzucenia
złożonej oferty, odwołujący stwierdził, że ich treść jest niezgodna z merytoryczną treścią
materiałów dołączonych przez Eurotek International Sp. z o.o. na wezwanie zamawiającego
z dnia 23 stycznia 2013 r., a ponadto stanowi o nielogicznym przeprowadzeniu analizy oferty
przez zamawiającego i udzielonych na jego wezwanie odpowiedzi. Prawidłowa analiza
dokumentacji załączonej przez odwołującego, w jego przekonaniu - nie doprowadziłaby do
wniosku - konieczności odrzucenia przedstawionej oferty na podstawie art. 89 ust. 1 pkt 2 -
przy powołaniu się na rzekomą niezgodność oferty z treścią SIWZ – co odwołujący
uzasadniał jak niżej:
Po pierwsze podnosił, że zamawiający w pkt 1 wezwania do uzupełnienia
oświadczeń i dokumentów wskazał, że odpowiedź czasowa fotopowielacza Hamamatsu
R928 wynosi 1.2 ns. Odwołujący w odpowiedzi na wezwanie do uzupełnienia danych
konfiguracji urządzeń zaoferowanych w postępowaniu wskazał, że nie jest to zgodne z
rzeczywistością, załączając wyniki pomiarów na przyrządzie PTI z użyciem fotopowielacza
R928, gdzie uzyskana IRF jest znacznie krótsza niż postulowana przez zamawiającego i
wynosi 580 ps. Odwołujący wyjaśniał, że odpowiedź czasowa fotopowielacza zależy od
różnych czynników, między innymi od rozkładu napięcia podawanego na dynody. Jako
przykład wskazał publikację Ware’a et al., w której zademonstrowane zostało IRF = 300 ps
dla fotopowielacza R928 (W.R. Ware, M. Pratinidhi, R.K. Bauer, Rev. Sci. Instr., 54, 1983,
1148-1156). Odwołujący nadmienił, że powyższy fakt jest znany i dostępny od 30 lat.
Odwołujący stwierdził, że w odpowiedzi na wezwanie z dnia 25 stycznia 2013 r.
przedstawił dowody, iż postulowany przez zamawiającego IRF = 1.2 ns nie ma uzasadnienia.
W związku z powyższym, za niezrozumiały poczytał fakt ponownego powołania się przez
zamawiającego na ww. wartość IRF przy uzasadnieniu odrzucenia oferty odwołującego.
dowód: pismo jakie odwołujący skierował dnia 25 stycznia 2013 r. do zamawiającego
Odwołujący powoływał się na okoliczność, że wykazał również, iż tzw. „teoria” 10%
szerokości czasowej IRF jako wartości granicznej mierzalnego czasu życia jest
nieprawdziwa. Odwołujący dokonał zmierzenia czasu zaniku krótko żyjącej kurkuminy przy
użyciu fotopowielacza R928 (49.8 ps), który jest krótszy niż 10% użytego IRF i uzyskał dobrą
zgodność z opublikowanym czasem życia (52 ps).
Odwołujący podnosił, że nie ma wielu próbek z udokumentowanym tak krótkim
czasem zaniku fluorescencji (czyli standardów). Układ mierzący <50 ps z bardzo (dobrym
współczynnikiem chi2) dobrą zgodnością z literaturą zmierzy także zaniki <40 ps. Powyższa
okoliczność wynika z wykresu zaniku kurkuminy i IRF (zanik o czasie 2 razy krótszym będzie
jeszcze odróżnialny od IRF, czyli czas życia da się wyznaczyć).
Odwołujący poddawał w wątpliwość - z jakich powodów zamawiający ostatecznie
stwierdził „że czas zaniku 49.8 ps nadal nie spełnia wymogów zamawiającego zapisanych w
SIWZ”.
Także za niezrozumiałe poczytał nie uznanie przez zamawiającego podanego przez
odwołującego zapisu powtarzalności lepszej niż 0.1 nm, podczas gdy takie uznanie znajduje
się w zapisie w broszurze produktu. Podkreślał, że po pierwsze ten parametr został
zagwarantowany oficjalnym dokumentem producenta, po drugie zapis ten został dodany
przez odwołującego aby zilustrować to potwierdzenie. Dalej za niezrozumiałe uznał również -
dlaczego zamawiający przypuszcza, że inny zapis zawarty w broszurze jest lepszym
dowodem na „trwałe” spełnienie wymagań, niż „eksperymentalnie udokumentowana” przez
odwołującego specyfikacja.
Odnosząc się do trzeciego argumentu wskazanego w treści uzasadnienia odrzucenia
oferty odwołujący wskazał, że specyfikacja rozdzielczości dla oferowanego sprzętu wynosi
0.06 nm. Za prawdziwością ww. okoliczności przemawia informacja zawarta na stronie
www.pti-nj.com. Dana ta znajduje sie także w załączniku do oferty przetargowej na str. 24 i
26.
Z powyżej wskazanych względów, odwołujący uznał działanie zamawiającego
polegające na odrzuceniu złożonej oferty za nieprawidłowe, a podstawą przedmiotowej
decyzji - nie może być dyspozycja art. 89 ust. 1 pkt 2 Pzp.
Na wezwanie zamawiającego z dnia 11 marca 2013 r. pismem z dnia 13 marca
2013r., w kopii przesłanym stronom, zgłoszenie przystąpienia do postępowania
odwoławczego po stronie zamawiającego złożył wykonawca wybrany: Spectro-Lab Sp. z o.o.
z siedzibą w Łomiankach, który powoływał się na interes w utrzymaniu w mocy wyboru jego
oferty do realizacji zamówienia. Jednocześnie wnosił o oddalenie odwołania jako
bezpodstawnego. W piśmie z dnia 18 marca 2013 r., złożonym na rozprawie przystępujący
uzasadnił swoje stanowisko.
Izba postanowiła dopuścić wykonawcę: Spectro-Lab Sp. z o.o. do udziału w
sprawie, uznając, że jego interes w popieraniu stanowiska zamawiającego utrzymania
czynności wyboru złożonej oferty jako najkorzystniejszej jest niewątpliwy.
Zamawiający nie uwzględnił odwołania podtrzymał stanowisko wyrażone w
powiadomieniu o wynikach przetargu. W odpowiedzi na odwołanie z dnia 14 marca 2013r.
zamawiający podał:
„Pkt 1. Zmawiający w pkt 7 tabeli na stronie 12 specyfikacji określił wymóg zapisując
go w poniższym brzmieniu: „najkrótszy mierzalny czas zaniku: nie dłuższy niż 40 ps.”
Odwołujący się zademonstrował na konkretnym, pojedynczym przykładzie, że przy -
użyciu proponowanego zestawu pomiarowego jest w stanie uzyskać czas zaniku 49.9 ps,
który jest zbieżny z wartością literaturową. Jest to jednak czas zaniku dłuższy niż
Zamawiający określił w specyfikacji i jest jedynie czasem zbieżnym nie tożsamym z czasem
określonym warunkowo przez zamawiającego.
Ponadto zamawiający pragnie nadmienić, że stwierdzenie odwołującego, strona 5
Faxu podnosi, że z udokumentowanym, tak krótkim czasem życia fluorescencji (czyli
standardów). Układ mierzący <50 ps z bardzo dobrym współczynnikiem chi2), dobrą
zgodnością z literaturą, zmierzy także zanik <40ps. Powyższa okoliczność wynika z wykresu
zaniku karkuminy i IRF (zanik w czasie 2 razy krótszym będzie jeszcze odróżnialny od IRF,
czyli czas życia da się wyznaczy) jest bezpodstawne, gdyż dokonanie pomiaru zaniku z
dokładnością 49,9 ps nie gwarantuje zamawiającemu, że z wykorzystaniem oferowanego
urządzenia możliwy jest pomiar zaniku <40ps.
Zamawiającego pragnie zwrócić uwagę, że sam Odwołujący nadmienił, że istnieją
próbki (standardy) oferujące czas zaniku <40ps, jednakże Odwołujący takich danych nie
przedstawił, tym samym nie udowodnił tego faktu.
Tak więc Zamawiający ani w ofercie, ani w odpowiedzi na zapytanie nie otrzymał od
Oferenta jednoznacznych informacji technicznych producenta urządzenia, potwierdzających,
że jest możliwy pomiar czasów życia nie dłuższych niż 40 ps., mimo iż: Zamawiający o takie
między innymi informacje zwrócił się do Oferenta po otwarciu ofert, ale ich w odpowiedzi nie
otrzymał.
W tej sytuacji Zamawiający nie mógł stwierdzić, że oferta spełnia warunki- techniczne
określone w SIWZ, gdyż byłoby to niezgodne z podstawowym: zasadami ustawy Pzp.
Obowiązkiem zamawiającego było odrzucenia oferty niezgodnej z SIWZ.
Dodatkowo należy wskazać, że Zamawiający w zapytaniu po otwarciu ofert zwrócił
uwagę Oferentowi, że dostępne na stronie internetowej producenta informacje nie
potwierdzają deklaracji możliwości pomiarów czasów życia nie dłuższych niż 40 ps.
Informacje zawarte w odpowiedzi Oferenta nie pozwoliły Zamawiającemu usunąć
tych wątpliwości.
W związku z powyższym zamawiający podtrzymuje swoje stanowisko co do
niedopełnienia przez Odwołującego wymagań zawartych w SIWZ.
Zamawiający pragnie nadmienić, że uprawioną intencją Zamawiającego jest
stworzenie w miarę możliwości uniwersalnej pracowni Spektroskopii Optycznej, która będzie
umożliwiała jej użytkownikom wykonywanie szybkich i prostych pomiarów. Będąc częścią
infrastruktury naukowo-badawczej Wrocławskiego Centrum Badań EIT + pracownia ta
będzie w przyszłości użyczana grupom badawczym o różnym przygotowaniu i
doświadczeniu, dlatego też istotne jest to aby wykonywanie pomiarów nie nastręczało
trudności poprzez dobieranie wyrafinowanych parametrów pomiarowych, lub wielu
skomplikowanych
operacji
obliczeniowych.
Zamawiający
nie
planuje
utworzenia
eksperymentalnego stanowiska pomiarowego laboratorium pomiarowego, którego zadaniem
byłoby doskonalenie technik pomiarowych lecz nowoczesną placówkę oferującą na wysokim
poziomie pomiary, które można uznać za standardowe, do czego Zamawiający ma nie tylko
prawo ale i jest zobowiązany z tytułu projektu rządowego finansowanego ze środków UE.
Należy wskazać, że na stronach internetowych firmy Hamamatsu dostępna jest karta
produktu „photomultiplier tubes R 928 i dane te utwierdziły Zamawiającego w powziętych
wątpliwościach co do możliwości spełnienia warunku pomiarów czasów życia nie dłuższych
niż 40 ps. Z danych tych, (poniżej zrzut ekranowy ) wynika, że firma Hamamatsu gwarantuje
czas odpowiedzi detektora na poziomie 1,2 ns.”
Zamawiający zamieścił tabelę „charakterystyka parametrów [urządzenia].
„Odwołujący powołuje się o na pojedyncze przykłady, w tym także literaturowe, które
mówią o możliwości pomiarów czasów zaniku poniżej 10 % odpowiedzi aparatu, dla
pewnych konkretnych, specyficznych ustawień parametrów pomiarowych. Zamawiający w
specyfikacji określił, że takie pomiary winny być możliwe do wykonania w każdym możliwym
przypadku dla całego zakresu spektralnego. Dlatego pojedyncze przykłady potwierdzające
jedynie taką możliwość nie są żadną gwarancją, że tak będzie dla innych przypadków, na
przykład dla emisji w innych zakresach spektralnych.
Dlatego specyfikacja urządzenia wystawiona przez producenta winna jednoznacznie
potwierdzić spełnienie warunków zapisanych w SIWZ w każdych okolicznościach
pomiarowych. Zamawiający oczekuje i jest zobowiązany z tytułu projektu rządowego do
tego, że aparatura zapewni standardowo możliwość pomiarów o jakość opisanej w SIWZ.
Odwołujący neguje także stosowaną, powszechnie regułę, która mówi, że stosując:
dekonwolucję sygnału nie jest możliwa analiza zaników krótszych niż 10% czasu odpowiedzi
detektora, Reguła ta opisywana jest wzorem matematycznym: Zamawiający przedstawił
przywołany wyżej wzór (…). Jest przywoływana przez innych dostawców sprzętu
pomiarowego jak na przykład Horiba PicoQuant czy Boston Electronics Corporation.
Zamawiający nie rozumie i podważa to, dlaczego miałby stosować inne kryteria
merytoryczne niż powszechnie przyjęte i aprobowane dla analizy tego typu procesów.
Zamawiający uważa, że nieuwzględnianie tej zasady byłoby merytoryczną wadą
prowadzonej analizy.
W załączeniu broszury firmy Horiba, PicoOuant, Boston Electronics i Edynburg
Instruments, potwierdzające powszechną aprobatę przywołanej zależności do analizy
problemu.
Wobec powyższego Zamawiający nie mógł podjąć decyzji innej niż odrzucenie oferty,
gdyż żadna z informacji dostarczonych przez Oferenta nie pozwala na potwierdzenie
możliwości pomiarów czasów życia nie dłuższych niż 40 ps.
Pkt. 2. Jednym z parametrów zapisanych w SIWZ była powtarzalność nastawy -
powtarzalność nastawy winna być nie gorsza niż 0.1nm. W dokumentach dostarczonych
przez Odwołującego się (karty techniczne) Zamawiający nie znalazł informacji dotyczących
parametru. Przeglądając parametry zaoferowanego sprzętu na stronie internetowej.” Na
wskazanej stronie internetowej (…) „znajdowała się informacja, iż powtarzalność nastawy
(„Reproducibility") wynosi 0.25 nm. /poniżej: fragment zrzutu ekranowego internetowej strony
z dnia 08.01.2013, oraz jako załącznik kopia pdf strony internetowej). Zamawiający nie mógł
jednoznacznie ocenić, czy zaproponowana konfiguracja spełniała wymogi SIWZ i poprosił o
przedstawienie adekwatnych wyjaśnień.
stray light
10
Accuracy
+/- 0.5 nm
Reproducibilty
0.25 nm
Optical path height
76 mm
W odpowiedzi Odwołujący się przysłał wyniki pięciu pomiarów wykonanych dla
kryształów YAGDy wykonane w zakresie spektralnym 454.5 – 625 nm, wykazując dla tych
pięciu pomiarów bardzo dobrą powtarzalność wyników. Jednakże wynik pięciu wykonanych
w stosunkowo wąskim zakresie spektralnym dla bardzo dobrze emitującego kryształu,
Zamawiający uznał za niewystarczający dowód trwałej powtarzalności pomiarów. Ponadto do
uzupełnień Odwołujący dołączył oświadczenie przygotowane przez Photon Technology
International, dokumentujące fakt przeprowadzenia pomiarów w laboratorium firmy PTI.
Zamawiający chce także zwrócić uwagę, że do oferty Odwołującego już wcześniej
dołączone były dwa oświadczenia firmy PTI - potwierdzające wymagany w SIWZ stosunek
sygnału do szumu oraz prędkość skanowania w czasie spektralnej akwizycji danych.
Wobec jednoznaczności dwóch wymienionych oświadczeń, Zamawiający w dobrej
wierze zaakceptował oba. Jednakże w przypadku powtarzalności nastawy oświadczenie PTI
poświadczało jedynie wykonanie pomiarów w laboratorium PTI z użyciem fotopowielacza
Hamamatsu R928 oraz przyrządu Quanta Master 40 wyposażonym w dwa monochromatory.
PTI nie stwierdził więc w swoim oświadczeniu, że gwarantuje spełnienie powtarzalności
nastawy z dokładnością 0.1 nm, a jedynie, że w pięciu konkretnych pomiarach taka
powtarzalność została osiągnięta. Innymi słowy oświadczenie PTI w tym przypadku nawet
nie próbuje stwierdzać, że taka dokładność jest w oferowanym urządzeniu gwarantowana.
W świetle powyższych, okoliczności; Zamawiający nadal uznaje wyniki pięciu
pomiarów za niewystarczające by przyjąć, że spełniony jest zapis SIWZ odnośnie tego
parametru.
Ponadto zwrócić należy uwagę, że w swojej odpowiedzi wezwany do uzupełnień
Odwołujący nie zaprzeczył, że informacja o powtarzalności nastawy 0.25 nm znajduje się na
stronie internetowej, nie stwierdził też, że jest to informacja np. przestarzała, czy z
jakichkolwiek innych powodów nieprecyzyjna.
Chcemy zaznaczyć, iż w ostatnich dniach informacja ta na stronie internetowej
została zmieniona na 0.1 nm, ale na etapie analizy ofert i podejmowania decyzji
Zamawiający dysponował jedynie informacjami powyżej przywołanymi, i żadna z nich nie
pozwalała stwierdzić, że parametr powtarzalności nastawy określony w SIWZ na 0.1 nm jest
przez oferowane urządzenie w całym zakresie jego pracy spełniony.
Zamawiający w żadnym wypadku nie traktuje zapisów w broszurze produktu jako lepszych,
ani gorszych, odnosi się jedynie do potwierdzonych, jednoznacznie określonych parametrów,
gdyż tylko tak postąpić może, a jednocześnie musi patrząc na procedury ustawy Pzp.
Pkt 3. W tabeli na stronie opisu technicznego (strona 15 oferty) Odwołujący wpisał
numer katalogowy urządzenia Q73-B, do którego karta katalogowa znajduje się na stronie 22
- Qante Master 40 Steady State Spectrofluorymeter with Q-73B NIR Upgrade – i wskazuje
rozdzielczość 0.25 nm (zamiast wymaganych w SIWZ 0.1 nm - strona 12 wiersz 9
Spektralna rozdzielczość danych nie mniej niż 0.1 nm). W związku z tym Zamawiający
wezwał Odwołującego do złożenia uzupełnień i wyjaśnienia jaka jest w rzeczywistości
rozdzielczość proponowanego sprzętu.
Po wezwaniu do wyjaśnień Odwołujący przyznał, że omyłkowo załączył starą kartę
katalogową, ale nie dostarczył nowej, stwierdził jedynie, że specyfikowany parametr wynosi
0.06 nm.
W swoim Odwołaniu, Odwołujący powołuje się na dane zawarte na stronach 24 i 26
oferty, jednakże należy zauważyć, że dane w ofercie stronach 24 i 26 dotyczą opcji
QuantaMaster 40 i Ouanta Master 30*, a nie Quanta Master 40 Steady State
Spectrofluorymeter with Q-73B NIR Upgrade wymienionego w tabeli 1. Zamawiający
stwierdził więc, zgodnie z rzeczywistością, że nie otrzymał dokumentacji potwierdzającej
spełnienie parametru rozdzielczości na poziomie 0.1 nm.
W tych okolicznościach Zamawiający musiał stwierdzić, że przedmiotowa oferta nie
spełnia wszystkich parametrów zapisanych w SIWZ, a więc i konsekwentnie ofertę odrzucić
na podstawie przepisów ustawy Pzp.”
Izba nie stwierdziła podstaw do odrzucenia odwołania w oparciu o art. 189 ust. 2
ustawy Pzp.
Izba dopuściła i przeprowadziła dowody: z protokołu postępowania, z ogłoszenia o
zamówieniu,
specyfikacji
istotnych
warunków
zamówienia,
oferty
odwołującego,
korespondencji stron. Nadto, Izba rozważyła stanowiska stron i uczestnika, przedstawione w
pismach oraz do protokołu rozprawy. Zamawiający na rozprawie nie podtrzymał zgłoszonego
ewentualnie dowodu z opinii biegłego ustanowionego w sprawie – zatem Izba nie dopuściła i
nie przeprowadziła takiego dowodu.
Rozpatrując odwołanie w granicach podnoszonych zarzutów stosownie do art. 192
ust. 7 ustawy Pzp Izba ustaliła, co następuje.
Przedmiot zamówienia stanowi: „dostawę wraz z montażem i uruchomieniem i
instruktażem personelu aparatury naukowo badawczej, fabrycznie nowej i kompletnej dla
potrzeb Laboratorium Spektroskopii Optycznej, z podziałem na 2 części zamówienia”.
Szacunkowa wartość zamówienia przekracza kwotę wskazaną w przepisach wydanych na
podstawie art. 11 ust. 8 ustawy Prawo zamówień publicznych.
Specyfikacja Istotnych Warunków Zamówienia (SIWZ) postanawia:
Dział III.
4. Wykonawca musi zaoferować przedmiot zamówienia zgodny z wymogami
Zamawiającego określonymi w SIWZ, przy czym zobowiązany jest dołączyć do oferty
jego szczegółowe opisy techniczne i/lub funkcjonalne w tym katalogi, opisy
techniczne producenta, pozwalające na ocenę spełnienia przez oferowane
urządzenia i sprzęt co najmniej parametrów minimalnych.
5. W przypadku złożenia oferty, w której zostanie zaoferowany przedmiot zamówienia o
parametrach równoważnych – wykonawca zobowiązany jest złożyć oświadczenie, że
oferta jest równoważna z opisem przedmiotu zamówienia w załączniku nr 1
formularzu oferty oraz powinien udokumentować równoważność rozwiązań.
Zamawiający korzystając ewentualnie z opinii rzeczoznawców dokona oceny
zaproponowanych rozwiązań pod kątem ich równoważności. W przypadku
wątpliwości obowiązek udowodnienia równoważności złożonej oferty spoczywa na
wykonawcy.
6. Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia i inne wymagania zamawiającego
zawierają dokumenty wymienione w tabeli 1.
- opis przedmiotu zamówienia pkt 7,
- opis przedmiotu zamówienia w załączniku nr 6 do SIWZ.
Urządzenia składające się na część I oferty, w tym:
- Specyfikacja Wymagań Użytkownika - spektofluorymetr,
- Specyfikacja Wymagań Użytkownika - laser UV-VIS-IR.
W Dziale VI pkt. 11.1 SIWZ Zamawiający wymagał w celu potwierdzenia, że oferowana
dostawa odpowiada jego wymaganiom, aby do oferty załączone zostały: „prospekty i/lub
foldery ofertowo-reklamowe sprzętu i/lub dokumentacja producenta; wskazane jest, aby
parametry techniczne prezentowane w załączonych prospektach odpowiadały parametrom
technicznym opisanym w załączniku nr 6 do SIWZ. Jeżeli w prospekcie technicznym brak
opisu danej funkcji aparatu lub wartości parametru, dopuszcza się załączenie do oferty
innych dokumentów producenta (np. części instrukcji obsługi), na podstawie których
Zamawiający będzie w stanie zweryfikować zgodność opisu funkcji lub wartości danego
parametru z treścią załącznika nr 6 do SIWZ.
Załącznik nr 6 Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia opracowany przez firmę M+W
według spisu z tabeli nr 1 w dziale III SIWZ, dostosowany przez zamawiającego do potrzeb
przedmiotowego zamówienia.
Załącznik nr 1 wzór formularza oferty.
Część A wspólna dla wszystkich części zamówienia (2).
Część B osobno dla każdej części I-II.
SIWZ zawiera uwagę: Powyższy opis stanowi obligatoryjnie wymagane parametry lub
funkcje. W przypadku parametrów lub funkcji lepszych niż minimalne należy je podać opisać
– nie spełnienie chociażby jednego z parametrów lub funkcji obligatoryjnych spowoduje
odrzucenie oferty.
Dział XI termin składania ofert został wyznaczony do 29 listopada 2012 r.
Dział XIII kryterium wyboru oferty została ustanowiona najniższa cena.
W formularzu oferty pkt 11) odwołujący podał, że opis równoważności go nie dotyczy.
Odwołujący zaoferował spektrofluorymetr typ Quanta Master QM -40 High Sensitivity z
wybranymi opcjami. Producent Photon Technology International; Nr katalogowy: QM-40;Q-
4G; S-73;S-171; S73B;K-158 rok produkcji 2012/2013.
Wykonawca złożył oświadczenie, że oferowana aparatura urządzenie jest kompletna
fabrycznie nowa i posiada niżej wymienione wyposażenie oraz cechy techniczno jakościowe
(parametry, funkcje), w tym:
Pkt 7. Powtarzalność nastawy winna być nie gorsza niż 0.1. Oświadczenie wykonawcy TAK:
0,1 nm
Odwołujący zaoferował jako laser UV-VIS-IR – spektrofluorymetr kinetyczny Typ Pico
Master; Producent Photo Technology International; model PicoMaster Fianium; ogólnie
wskazał numery katalogowe, w tym Q-73B.
Pkt 7. Najkrótszy mierzalny czas zaniku: nie dłuższy niż 40 ps. Oświadczenie wykonawcy:
TAK: <40ps TCSPC.
Pkt 9. Spektralna rozdzielczość danych: nie mniej niż 0.1 nm. Oświadczenie wykonawcy:
TAK: 0.06 nm.
Odwołujący przedstawił opisy oferowanego urządzenia lasera na stronach 15-16 oferty oraz
na stronach 19-21 – dla spektrofluorymetru, w którym wskazał odniesienie do
poszczególnych wymagań minimalnych, z przytoczeniem odnośnego numeru katalogowego.
Odwołujący zamieścił w dokumentach oferty zbiór kart katalogowych producenta urządzenia
(modułów).
Zamawiający w trakcie badania ofert ujawnił braki i nieścisłości w ofercie odwołującego w
związku z czym pismem z dnia 23 stycznia 2013 r. – wezwał wykonawcę do uzupełnienia
oświadczeń i dokumentów, j.n.:
„Działając na podstawie art. 87 ust 1 ustawy z dnia 29 stycznia 2004 r. Prawo zamówień
publicznych (Dz. U. z 2010 r. Nr 113, poz. 759 z późn. zm.) Zamawiający wzywa do
udzielenia wyjaśnień dotyczących treści złożonych ofert.
W związku z niemożliwością jednoznacznej oceny parametrów urządzeń zaoferowanych
przez Państwa firmę w przetargu nr ZP/(M/D/PN/2012 uzupełnionych danych konfiguracji
urządzeń zaoferowanych (Załącznik nr 1 do SIWZ - Wzór Formularza Oferty - Część B),
Dostarczone opisy i parametry oraz dane techniczne powinny w jednoznaczny sposób
stwierdzać implementację nw. punktów:
Część I – dot. Laser UV-VIS-IR:
1. W Formularzu Oferty Część B Główne funkcje urządzenia w punkcie 4; Specyfikacja
wymaga, aby zaproponowane rozwiązanie umożliwiało pomiar czasów zaniku nie dłuższych
niż 40 ps. Po uwzględnieniu pytań zadanych w trakcie procedury przetargowej Zamawiający
zgodził się na dopuszczenie piko sekundowego źródła wzbudzenia 390-2000 nm. Państwa
oferta zakłada pomiar czasów życia przez dekonwolucję. Po zapoznaniu się na stronach
firmy Hamamatsu (…) z parametrami technicznymi zaproponowanego fotopowielacza
Zamawiający nie rozumie, w jaki sposób możliwe będzie wykonanie pomiarów dla czasów
zaniku nie dłuższych niż 40 ps? W ocenie Zamawiającego powyżej 900 nm, gdzie
zaproponowanym detektorem jest detektor inGaAs nie jest w ogóle możliwy pomiar
pikosekundowych czasów zaniku, a w zakresie do 900 nm, detektorem jest fotopowielacz
Hamamatsu R928 z czasem odpowiedzi 1,2 ns możliwe są pomiary jedynie czasów zaniku
nie krótszych niż 120 ps, (Zgodnie z teorią, stosując dekonwolucję: nie jest możliwa analiza
zaników krótszych niż 10% czasu odpowiedzi detektora). W związku z tym Zamawiający nie
może jednoznacznie ocenić, czy zaproponowana konfiguracja spełnia SIWZ i prosi o
przedstawienie adekwatnych wyjaśnień.
Część l – dot. Laser UV-VIS-IR:
2. W Formularzu Oferty Część B Główne funkcje urządzenia w punkcie 9;
Specyfikacja wymaga, aby „spektralna rozdzielczość danych: nie mniej niż 0,1 nm”
tymczasem w załączonej Ofercie na stronie 22 dotyczącej QuantaMaster 40 znajduje się
informacja „Resolution 0,25" nm. Zamawiający stwierdza, iż w tej sytuacji nie może
jednoznacznie ocenić czy Państwa oferta jest zgodna z SIWZ i prosi o złożenie wyjaśnienia
w tej sprawie.
Część I - dot. Spektrofluorymetr:
3. W Formularzu Oferty Część B Główne funkcje urządzenia w punkcie 7:
Specyfikacja wymaga, aby „Powtarzalność nastawy powinna być nie gorsza niż 0.1 nm” Na
stronie
internetowej
(…)
Znajduje
się
informacja,
iż
powtarzalność
nastawy
(„Reproducibility”) wynosi 0.25 nm. Zamawiający nie może jednoznacznie ocenić, czy
zaproponowana konfiguracja spełnia wymogi SIWZ i prosi o przedstawienie adekwatnych
wyjaśnień.
Prosimy zatem o przesłanie wyjaśnień przez które rozumiemy zarówno Państwa wyjaśnienia
w formie osobistego oświadczenia wiedzy jak i złożenie stosownych/odpowiednich
prospektów i/lub folderów ofertowo-reklamowych sprzętu i/lub dokumentacji producenta, z
których jasno wynika, iż parametry techniczne prezentowane w ww. dokumentach
odpowiadają parametrom technicznym opisanym w Załącznikach Nr 1 i 6 do SIWZ. Jeżeli w
prospekcie technicznym brak opisu danej funkcji aparatu lub wartości parametru, dopuszcza
się załączenie do oferty innych dokumentów producenta (np. część instrukcji obsługi), wg
których Zamawiający będzie w stanie zweryfikować zgodność opisu funkcji lub wartości
danego parametru.”
Zamawiający wyznaczył termin na udzielenie wyjaśnień do dnia 31 stycznia 2013 r.
Pismo odwołującego z dnia 25 stycznia 2013 r. - odpowiedź na wezwanie do uzupełnienia
oświadczeń i dokumentów.
„W odpowiedzi na wezwanie do uzupełnienia danych konfiguracji urządzeń zaoferowanych
w niniejszym postępowaniu, poniżej wyjaśniamy podniesione w wezwaniu kwestie. Poniższe
wyjaśnienie jest zilustrowane przykładami pomiarowymi w załączonym dokumencie „Dane
testowe"
l. Część I - dot. Laser UV-VIS-IR.
Główne funkcje urządzenia w punkcie 4. Na pytania w punkcie l. odpowiadamy, co
następuje.
1. W opisie technicznym oferty podaliśmy parametry pomiaru zaników emisji w
poszczególnych zakresach: (i) 185-900 nm CW, mikro, mili i pikosekundowe, (ii) 900-2200
nm - mikro, mili sek i CW. SIWZ wskazuje jedynie zakresy wzbudzenia dla pomiarów
pikosekundowych (pkt. 4.), a nie precyzuje tego w odniesieniu do detekcji. Ponieważ w
całym wymaganym zakresie emisji nie jest praktycznie możliwy pomiar emisyjny z
wymaganą dokładnością (w zakresie 1700-2200 nm), założyliśmy, że Zamawiający
pozostawia tę sprawę do uznania oferenta. Nasza oferta wskazuje, w którym zakresie można
mierzyć pikosekundowe czasy zaniku w zaoferowanej konfiguracji.
2. Dolna granica mierzalności zaniku fluorescencji z użyciem proponowanego
fotopowielacza. PTI selekcjonuje detektory pod względem dokładności pomiaru. Wybiera się
je m. in. pod kątem rozrzutu czasu przelotu i fluktuacji czasów narastania. Ponadto PTI
używa
indywidualnie
dostosowanej
elektroniki
pomiarowej
(gniazdo
PMT,
przedwzmacniacze itd.). Nasza oferta jest oparta o udokumentowane pomiary testowe.
Zaznaczamy, że przytoczona w piśmie reguła „10% czasu odpowiedzi" jest przybliżona.
Granica pomiaru z użyciem procedur dekonwolucji zależy w decydującej mierze od jakości
statystycznej pomiaru. W tym także precyzji i staranności w pomiarze czasowej „funkcji
odpowiedzi aparatury" (IRF) i mierzonego zaniku. Szczególnie ważne jest to przy pomiarze
próbek stałych ze względu na poziom światła rozproszonego w sygnale emisji.
Na dowód powyższego przytaczamy pomiar szybkiej kinetyki znanego wzorca -kurkuminy -
w roztworze w cykloheksanie. Dane testowe, rys. 1. Szerokość połówkowa IRF wynosi 0.58
ns, zaś czas zaniku fluorescencji wyliczony z dekonwolucji - 49.8 (+/-2.2) ps.
Referencyjny czas zaniku tej substancji (S. M. Khopde, K. L Priyadarsini, D.K. Palit and T,
Mukherji, Effect of Solvent on the Excited-State Photophysical Properties of Curcumin,
Photochem. Photobiol, 2000, 72(5), 625-631) wynosi 52 ps.
2.
Część I -dot. Laser UV-VIS-IR.
Główne funkcje urządzenia w punkcie 9. Na pytania w punkcie 2. odpowiadamy co
następuje.
Oferowany spektrofluorymetr z rodziny QuantaMaster ma podwójne monochromatory
zarówno w torze wzbudzenia, jak i emisji. Potwierdzamy specyfikowany w ofercie parametr
rozdzielczości spektralnej monochromatora na 0.06 nm. Do oferty załączyliśmy omyłkowo
starszą wersję karty katalogowej. Bieżące dane wskazują rozdzielczość 0.06 nm.
3.
Część I - dot. Spektrofluorymetr.
Główne funkcje urządzenia (…).
Na pytania w punkcie 3 odpowiadamy co następuje.
Potwierdzamy specyfikowany w ofercie parametr powtarzalności nastawy na 0,1 nm.
Ilustrujemy dokładność przyrządu powtórzonymi przebiegami pomiaru widma linii ok 496.4
nm kryształu DYAG (Dane testowe, rys. 3.). 5 kolejnych zapisów ma błąd powtarzalności
poniżej 0.1 nm.
W odniesieniu do pytań dla części I informujemy, że spektrofluorymetr QM-40 ma charakter
modułowy. W zależności od wymagań, stosowane są pojedyncze lub podwójne
monochromatory 200 mm ( M102 lub 2xM102) oraz monochromatory 300 mm. Podobnie
napędy i sterowniki monochromatorów są dopasowywane do wymaganych parametrów
„dokładności" spektralnej. Widoczne na stronie producenta są konfiguracje standardowe.
Nasza oferta wskazywała na użycie monochromatorów podwójnych.
Załącznikiem do tego wyjaśnienia jest dokument „Pomiary testowe wykonane
spektrofluorymetrem QM-40 z fotopowielaczem R 928." Konfiguracja z monochromatorem
podwójnym (2 str.) oraz list z Photon Technology International Inc. z dnia 28 stycznia 2013 r.
poświadczający wykonane pomiary testowe” „Niniejszym potwierdzam, że wyniki załączone
w dokumencie „Dane testowe” zostały wykonane w laboratorium PTI z użyciem standartowej
aparatury. Pomiar zaniku kurkuminy został wykonany przy wzbudzeniu dioda laserowa 375
nm i z użyciem fotopowielacza R928 Hamamatsu pracującym w trybie zliczania
pojedynczych fotonów. Powtarzalność zapisu widma emisji z użyciem kryształu DYAG
została zmierzona na przyrządzie QuantaMaster-40 wyposażonym w podwójne
monochromatory.”
Na część I zamówienia zastały złożone 2 oferty odwołującego oraz przystępującego.
Pismem z dnia 25 lutego 2013 r. - zawiadomieniem o wyborze oferty dla części I,
zamawiający uznał ofertę przystępującego Spectro-Lab Sp. z o.o. z ceną brutto 2 398 500,00
zł za najkorzystniejszą. Jednocześnie zamawiający odrzucił ofertę odwołującego (z ceną
1 195 708,95 zł brutto) na podstawie art. 89 ust. 1 pkt 2 ustawy Pzp jako nieodpowiadającej
treścią SIWZ, z następującym uzasadnieniem: „Zamawiający specyfikując aparaturę
naukowo-badawczą na potrzeby Laboratorium Spektroskopii Optycznej miał na celu zakup
urządzenia umożliwiającego prowadzenie badań i uzyskiwanie rezultatów o odpowiedniej
jakości oraz specyficznych parametrach, dlatego też:
- w przypadku pomiaru czasów zaniku nie dłuższych niż 40ps Firma Eurotek zaznacza, że
reguła 10% czasu odpowiedzi detektora jest regułą przybliżoną przytaczając dane
literaturowe oraz wyniki własnych pomiarów, w których wykazuje, że dla IRF 0.58 ns (580 ps)
możliwy jest pomiar czasu zaniku (policzonego przez dekonwolucję) 49.8(+/- 2.2) ps
(referencyjny czas zaniku substancji z danych literaturowych - 52 ps). Ponadto Firma
Eurotek w udzielonych odpowiedziach, nie odnosi się do pytania jak używając detektora
Hamamatsu R928 - zaproponowanego w ofercie, o czasie odpowiedzi 1.2 ns możliwe będzie
wykonanie pomiaru próbki o czasie zaniku nie dłuższym niż 40 ps. Firma Eurotek twierdzi, że
reguła 10 % mimo, iż przybliżona pozostaje w mocy, i mimo zakładania staranności w
doborze gniazd pomiarowych krytycznym parametrem pozostaje czas odpowiedzi
fotopowielacza, czyli tym samym detektor ten nie jest odpowiedni dla tak krótkich czasów
zaniku (poniżej 40ps, ponieważ 10% 1.2 ns, wynosi 120 ps). Ponadto zademonstrowany
przykład pomiarowy - czas zaniku 49.8 ps, nadal nie spełnia wymogów Zamawiającego
zapisanych w SIWZ,
- w przypadku wymogu powtarzalności nastawy „Reproducibility" 0.1 nm dołączona
specyfikacja przetargowa, jak i informacje znalezione na stronie internetowej producenta
podają wartość 0.25nm. Zdaniem Zamawiającego uzyskanie pięciu powtarzalnych zapisów
pojedynczego pomiaru nie jest dowodem, że specyfikacja urządzenia zapewnia w sposób
trwały spełnienie wymaganego warunku zapisanego w SIWZ.
- w przypadku wymogu spektralnej rozdzielczości danych, nie mniej niż 0,1 nm specyfikacja
techniczna Firmy Eurotek zawiera wartość 0,25nm. Firma Eurotek w odpowiedzi na pytania
stwierdza, że wartość ta została umieszczona omyłkowo, jednakże do odpowiedzi nie
została dostarczona karta katalogowa produktu potwierdzająca wymagana w SIWZ
rozdzielczość 0,1 nm, a w opinii Zamawiającego Oświadczenie Oferenta nie jest
wystarczającym potwierdzeniem spełnienia parametru.
Zamawiający na podstawie udzielonych wyjaśnień Firmy Eurotek stwierdza, że oferta jest
niezgodna z wymaganiami w SIWZ, oferta nie spełnia wymagań SIWZ, wobec czego
Zamawiający zobowiązany jest odrzucić przedmiotową ofertę.”
Izba zważyła, co następuje.
Odwołujący, wykazał legitymację do wniesienia odwołania w rozumieniu art. 179 ust.
1 ustawy Pzp - skoro jego oferta, jako zawierająca korzystniejszą cenę niż wybranego
wykonawcy - została odrzucona. Był zatem uprawniony aby skarżyć - jak dowodził -
niezgodne z ustawą Pzp czynności i zaniechania zamawiającego wobec oceny złożonej
oferty, które godziły w interes odwołującego w uzyskaniu zamówienia i mogły narażać
odwołującego na poniesienie szkody.
Przytaczane powyżej postanowienia SIWZ w odniesieniu do wykazania spełnienia
przez oferowane dostawy wymagań określonych przez zamawiającego pozostają w
zgodności z regulacją art. 25 ust. 1 pkt 2) ustawy Pzp. Przepis ten upoważnia
zamawiającego do żądania oświadczeń lub dokumentów potwierdzających spełnianie przez
oferowane dostawy wymagań określonych w SIWZ. Zakres dokumentów, które mogą być
wymagane określa § 5 ust. 1 rozporządzenia Prezesa Rady Ministrów z dnia 30 grudnia
2009 r. w sprawie rodzajów dokumentów, jakich może żądać zamawiający od wykonawcy,
oraz form, w jakich te dokumenty mogą być składane (Dz. U. Nr 226 poz. 1817), które
obejmują między innymi: opisy urządzeń technicznych, instrukcje obsługi.
W myśl art. 82 ust. 3 ustawy Pzp, treść oferty musi odpowiadać treści specyfikacji
istotnych warunków zamówienia. Zgodność treści oferty z treścią specyfikacji jest
zapewniona wówczas, gdy na podstawie analizy i porównania treści obu tych dokumentów
można uznać, iż postanowienia zawarte w ofercie nie są inne, tj. nie różnią się w swej treści
od postanowień zawartych w specyfikacji istotnych warunków zamówienia. Przepis art. 89
ust. 1 pkt 2 ustawy Pzp wskazuje natomiast, że zamawiający odrzuca ofertę, jeżeli jej treść
nie odpowiada treści specyfikacji istotnych warunków zamówienia, z zastrzeżeniem art. 87
ust. 2 pkt 3 ustawy.
Sformułowanie przepisu sprawia, że w sytuacji wystąpienia tejże przesłanki
zamawiający ma obowiązek, a nie uprawnienie do odrzucenia oferty. Norma art. 89 ust. 1 pkt
2 ustawy Pzp odnosi się zaś do merytorycznego aspektu zaoferowanego przez wykonawcę
świadczenia oraz merytorycznych wymagań zamawiającego, w szczególności co do
zakresu, ilości, jakości, właściwości, warunków realizacji i innych elementów, którym
zamawiający nadał rangę istotnych - dla wykonania zamówienia. Niezgodność treści oferty z
treścią SIWZ ma miejsce w sytuacji, gdy oferta nie odpowiada w pełni przedmiotowi
zamówienia, nie zapewniając jego realizacji w całości zgodnie z wymogami zamawiającego
(wyrok KIO z dnia 24 października 2008 r., sygn. akt KIO/UZP 1093/08). W orzecznictwie
Izby podkreśla się, że niezgodność treści oferty z treścią SIWZ powinna być oceniania z
uwzględnieniem definicji oferty zawartej w art. 66 K.c., tj. niezgodności oświadczenia woli
wykonawcy z oczekiwaniami zamawiającego, odnoszącymi się do merytorycznego zakresu
przedmiotu zamówienia, a więc materialnej sprzeczności zakresu zobowiązania zawartego w
ofercie z zakresem zobowiązania, którego spełnienia zamawiający oczekuje - zgodnie z
postanowieniami SIWZ. Postanowienia SIWZ zostały ostatecznie ukształtowane, a na etapie
oceny ofert brak było podstaw do rewidowania ich treści, zatem wszyscy uczestnicy
przetargu, jak i sam zamawiający - byli związani opisem przedmiotu zamówienia i sposobu
spełnienia wymagań, zamieszczonym w SIWZ.
Przechodząc do rozpatrzenia zarzutów odwołania, Izba w pierwszej kolejności
stwierdziła, że treść oferty w przedmiotowym postępowaniu wyznacza Załącznik nr 1
wypełniony formularz oferty, część A wspólna dla wszystkich części zamówienia oraz część
B osobno dla każdej z części zamówienia, podający zaoferowane przez wykonawcę w
kolumnie 3 faktycznie posiadane parametry oferowanego urządzenia. Ponadto, za treść
oferty odwołującego wykonawcy należało przyjąć w odniesieniu do urządzenia
spektrofluorymetru – opis własny zawarty na stronie 19-21 dokumentów oferty, oraz opis
własny lasera UV-VIS-NIR zawarty odpowiednio na stronie 15-16, w odniesieniu do
wyspecyfikowanych w punktach wymagań zamawiającego podanych w tabelach w
Formularzu Oferty Część B – Główne funkcje urządzenia. W dokumentach tych odwołujący
podał odniesienie zamieszczonego opisu do wskazanych punktów wymagań oraz numer
katalogowy karty (specyfikacji) producenta, dla których w oparciu o zawarte tam dane,
zamawiający mógłby zweryfikować deklarowane przez odwołującego właściwości i
parametry oferowanych urządzeń.
Opisane: - „prospekty i/lub foldery ofertowo reklamowe sprzętu i/lub dokumentacja
producenta; wskazane jest, aby parametry techniczne prezentowane w załączonych
prospektach odpowiadały parametrom technicznym opisanym w załączniku nr 6 do SIWZ.
Jeżeli w prospekcie technicznym brak opisu danej funkcji aparatu lub wartości parametru,
dopuszcza się załączenie do oferty innych dokumentów producenta (np. części instrukcji
obsługi), na podstawie których Zamawiający będzie w stanie zweryfikować zgodność opisu
funkcji lub wartości danego parametru z treścią załącznika nr 6 do SIWZ” – stanowiły zaś
dokumenty na potwierdzenie, że oferowane dostawy spełniają wymagania określone przez
zamawiającego – w rozumieniu art. 25 ust. 1 pkt 2) ustawy Pzp.
Dokumenty przedmiotowe na potwierdzenie, że oferowany wyrób spełnia wymagania
zamawiającego, w przeciwieństwie do dokumentów kreujących treść oferty, podlegają
uzupełnieniu na wezwanie zamawiającego w oparciu o art. 26 ust. 3 ustawy Pzp, który
stanowi, że zamawiający wzywa wykonawców, którzy w określonym terminie nie złożyli
wymaganych przez zamawiającego oświadczeń lub dokumentów, o których mowa w art. 25
ust. 1 ustawy Pzp. Z wyłączeniem przypadku opisanego w art. 87 ust. 2 pkt 3 ustawy Pzp,
przepis art. 87 ust. 1 tej ustawy zabrania zarówno prowadzenia negocjacji dotyczących
złożonej oferty oraz (…) dokonywanie jakichkolwiek zmian w jej treści.
Izba natomiast weryfikuje czynności zamawiającego w oparciu o warunki ustalone w
przetargu i specyfikację udostępnioną wykonawcom, której postanowienia są wiążące.
Pomimo zadeklarowania przez odwołującego spełnienia wszystkich wymaganych
parametrów, zamawiający biorąc pod uwagę zestawienie treści oferty (deklarowanego
zobowiązania wykonawcy) - z przedłożonymi na potwierdzenie specyfikacjami producenta
(kartami katalogowymi) a także przy braku ich wskazania - powziął wątpliwości co do
spełnienia przez oferowane przez odwołującego urządzenia wymagań SIWZ w odniesieniu
do:
- pkt 4,7 i 9 części I – dot. lasera UV-VIS-IR,
- oraz pkt 7 dotyczącej spektrofluorymetru.
Zamawiający uznał złożone w wyniku wezwania wyjaśnienia oraz przedłożone
dodatkowo dokumenty za nie potwierdzające spełnienia postawionych wymagań, w
odniesieniu do:
- pkt 7 i 9 części I – dot. lasera UV-VIS-IR,
- oraz pkt 7 - dotyczącej spektrofluorymetru.
Z tych też względów oferta odwołującego została odrzucona.
W oparciu o przeprowadzone postępowanie dowodowe w sprawie, Izba podzieliła
stanowisko zamawiającego oraz przystępującego, że treść oferty odwołującego nie
odpowiada treści specyfikacji istotnych warunków zamówienia.
W odniesieniu do wymaganego parametru 7 – główne funkcje urządzenia lasera UV-
VIS-IR Pico Master Fianium – najkrótszy mierzalny czas zaniku nie dłuższy niż 40 ps,
odwołujący w formularzu oferty zaoferował ten parametr na wymaganym poziomie –
mniejszym niż 40 ps. Pominął jednak dokonanie opisu technicznego tegoż parametru na
stronach 15 i 16 swojej oferty, przez co treść oferty w tym zakresie nie pozostawała spójna i
kompletna. Nie wskazał też oznaczonego numeru karty katalogowej producenta, która
jednoznacznie potwierdzałaby, iż oferowane urządzenie w rzeczywistości taką cechą się
charakteryzuje. Dopiero na wezwanie zamawiającego, odwołujący przedstawił dokument nie
dopuszczany przez zamawiającego, t.j. - wyniki pomiarów testowych zaniku kurkuminy,
wykonane spektrofluorymetrem QM-40 z fotopowielaczem Hamamatsu R 928, konfiguracja z
monochromatorem podwójnym, a o dopuszczeniu wyników badań i ich przedstawieniu w
ofercie zamawiający nie mówił ani w SIWZ ani w wezwaniu do złożenia wyjaśnień. Jednakże
nawet przedstawione wyniki nie wykazywały spełnienia wymagania najkrótszego
mierzalnego czasu zaniku, nie dłuższego niż 40 ps, gdyż w tych wynikach mówi się o 49.8
ps. Izba przychyliła się do argumentacji zamawiającego, że skoro jest ustalony powszechnie
stosowany wzór dla wyliczenia najkrótszego mierzalnego czasu zaniku i zamawiający
oczekiwał wyliczenia wartości omawianego parametru przy zastosowaniu tego wzoru, to
powinna być dobrana taka konfiguracja, która by wprost potwierdzała wymagany wynik
pomiaru nie dłuższy niż 40 ps. Odwołujący powoływał się na dokumenty, z których wynika, iż
mierzalny czas zaniku wynosi 49.8 ps, zatem można było uznać ten zarzut za przyznany
przez samego odwołującego. W informacji zawartej na str. 29 oferty - najkrótszy mierzalny
czas zaniku – wskazany został nawet na poziomie 20 ps, ale należy go rozpatrywać łącznie
z innymi wskazanymi tu parametrami tj. dla detektora zaoferowanego - 580 ps. Detektor 180
ps jest natomiast 3 razy szybszy od zaoferowanego 580 ps i dla takiego detektora byłoby
możliwe osiągnięcie 20 ps mierzalnego czasu zaniku. Przykład zaniku kurkuminy, 49.8 nie
gwarantuje, iż przy użyciu oferowanego urządzenia możliwy jest pomiar najkrótszego
mierzalnego czasu zaniku na poziomie nie dłuższym niż 40 ps.
W odniesieniu do wymaganego parametru 9 – główne funkcje oferowanego
urządzenia lasera UV-VIS-IR – spektralna rozdzielczość danych: nie mniej niż 0.1 nm,
odwołujący w formularzu oferty zaoferował ten parametr na wymaganym poziomie – 0.06
nm, tj. jest lepszym – od wyznaczonego minimalnego.
Z opisu przedstawionego na str. 15 i 16 oferty odwołującego wynika, że do punktu 9
powinny mieć zastosowanie karty katalogowe na str. 22 (Q73B, S-72B) oferty, które
stwierdzają w odniesieniu do QuantaMaster 40 „Rezolution 0.25 nm”, podczas gdy w opisie
zaznaczono, że do numeru katalogowego Q73B odnosi się parametr pierwszy, natomiast w
odniesieniu do parametru 9 odnoszą się karty katalogowe S73B i S 72B (str. 16 opisu).
Odwołujący przyznał w złożonych wyjaśnieniach, że do oferty załączył starszą wersję karty
katalogowej, a bieżące dane wskazują na rozdzielczość 0.06 nm, ale tej nowej karty nie
załączył. Zamawiający wymagał jednoznacznego stwierdzenia zarówno w opisie wykonawcy,
jak i w karcie katalogowej czy innych dokumentach producenta, które by takie wymaganie
według tabeli minimalnych parametrów - jednoznacznie potwierdzały. W odniesieniu do
parametru 9 na str. 11 oferty został przywołany numer katalogowy Q73B i pod to jest karta
katalogowa na str. 22. Z karty tej wynika, iż rozdzielczość spektralna „Resolution” jest
wskazana w wielkości 0.25 nm, zatem poświadcza to niezgodność z wymaganiem, bo
powinno być nie mniej niż 0.1 nm. Odwołujący oznaczył lepszy parametr 0.06 nm w ofercie,
a w katalogu parametr ten jest podany na poziomie gorszym tzn. 0.25 nm. Oferowane
urządzenie stanowi pewien system składający się z modułów. Jednakże jeżeli jakiś moduł
zostanie dodany to wpływa to na parametry całego systemu. W dokładnym opisie urządzenia
lasera wskazano Pico Master PreAmp z rozszerzeniami modułowymi Q73B i Q73D, odnosi
się do rozszerzenia oferowanego Q73B, do którego nawiązuje karta katalogowa
zamieszczona na str. 22, gdzie spektralna rozdzielczość (resolution) została wskazana w
wielkości gorszej niż wymagana i zadeklarowana (tj. 0.25 nm), a karty katalogowe
przedstawione na str. 24 i 26 dotyczą urządzenia Quanta Master TM40, które nie zawierają
oferowanego rozszerzenia Q73B, zatem nie mogą być odnoszone do potwierdzenia
wymagania z pkt 9 dla lasera. Specyfikacja producenta wskazuje rozdzielczość 0.25 nm
zamiast wymaganej 0.1 nm. Zamawiający nie otrzymał dokumentu potwierdzającego
rozdzielczość na poziomie 0.1 nm.
W odniesieniu do wymaganego parametru 7 – główne funkcje urządzenia
spektrofluorymetru – powtarzalność nastawy powinna być nie gorsza niż 0.1nm,
zadeklarowano poziom spełnienia „TAK; 0.1 nm.” Odwołujący w opisie własnym sposobu
spełnienia wymagań nie odniósł się do oznaczonych wprost oferowanych parametrów dla pkt
7, przywołał pkt 10 i określone w nim karty katalogowe S-73 oraz S-73B. Zamawiający nie
potwierdził, że opis pkt 7 i zawarte tam wymaganie jest tożsamy z opisem pkt 10 tabeli
wskazywanym przez odwołującego. Pkt 10 mówi o spektralnej rozdzielczości czyli jakości
wyniku badania, natomiast pkt 7 mówi o powtarzalności tzn. o tym żeby w tych samych
warunkach wyniki się nie różniły. Chodzi o to, żeby oferowana aparatura gwarantowała
stabilność wyników. Ani w opisie dla spektrofluorymetru nie ma odniesienia do pkt 7
powtarzalności nastawy, a w związku z tym nie wskazano również aby zaoferowaną wartość
parametru potwierdzały karty katalogowe producenta, gdyż podane specyfikacje producenta
odnoszą się do pkt 10 - czyli spektralnej rozdzielczości danych. Należało uwzględnić, że
zamawiający będzie badał różne próbki pod kątem zastosowań użytkowych, a kryształ
DYAG, w odniesieniu do którego odwołujący załączył do złożonych wyjaśnień – wyniki 5
powtórzonych kolejnych przebiegów badań dokonanych przez producenta – stanowi
substancję łatwą do mierzalności - według doświadczeń praktycznych zamawiającego.
Zamawiający chciałby mieć pewność powtarzalności wyników za każdym razem, o ile będzie
badany ten sam materiał, a nie tylko w przypadku 5 powtórzonych kolejnych przebiegów (na
łatwym materiale). Zamawiający przedłożył jako dowód w sprawie wydruk ze strony
internetowej producenta urządzenia - z informacją, iż powtarzalność nastawy wynosi 0.25
nm i z tych względów właśnie zwrócił się o wyjaśnienia. Dotyczyło to urządzenia Quanta
Master TM40 oferowanego przez odwołującego. Zamawiający miał zatem podstawy do
uznania, że wyjaśnienia nie potwierdziły deklarowanego parametru na poziomie 0.1 nm –
stanowiąc jeden z powodów odrzucenia oferty odwołującego. Mimo zadeklarowania
parametru w wielkości 0.06 nm specyfikacja producenta – na jego potwierdzenie, nie została
dołączona.
Według wskazań specyfikacji istotnych warunków zamówienia, obowiązkiem
wykonawcy składającego ofertę było potwierdzenie w tabeli wymagań - wymaganego
parametru i dokonanie jego opisu i dołączenie kart katalogowych - opisu producenta, które
by te parametry jednoznacznie potwierdzały, czyli wyniki pomiarów eksperymentalnych, czy
wycinkowych - nie były w ogólności dopuszczone na potwierdzenie parametrów.
Zamawiający nie miał obowiązku analizować przedstawionych wyników pomiarów, z punktu
widzenia chociażby ich kompatybilności z wszelkimi innymi stawianymi uwarunkowaniami.
Powodem odrzucenia oferty odwołującego była niezgodność treści oferty z treścią
SIWZ, w związku z czym odwołujący musiałby wykazać, iż w jego ofercie znajdują się
potwierdzone wszystkie wymagania graniczne, w tym kwestionowane, a w ocenie Izby –
odwołujący nie zdołał takich dowodów przeprowadzić.
Nie można było pominąć, iż zamawiający nie poprzestał na samych oświadczeniach
wykonawcy w formularzu oferty jako niewątpliwej treści oferty. Wymagał też opisów w pełni
zgodnych z deklaracjami spełnienia minimalnych parametrów gwarantowanych. Nadto,
potwierdzonych w materiałach producenta: kartach katalogowych, specyfikacjach wyrobu,
ofertach handlowych, prospektach, czy nawet w instrukcjach obsługi. Zamawiający
zobligowany był zatem weryfikować oferty w sposób jaki podał w specyfikacji, zarówno z
uwagi na treść oświadczeń jak i innych wymaganych dokumentów.
W związku z powyższym, zamawiający zasadnie odrzucił ofertę odwołującego, gdyż z
punktu widzenia postawionych wymagań, sposobu zaoferowania tych wymagań i sposobu
potwierdzenia spełnienia zaoferowanych wymagań określonego w specyfikacji, oferta
odwołującego nie odpowiadała treści SIWZ.
Brak potwierdzenia obligatoryjnie wymaganymi dokumentami (opisy producenta)
deklarowanych w ofercie właściwości przedmiotu zamówienia, kwalifikowany jest w oparciu o
art. 89 ust. 1 pkt 2 ustawy Pzp, jako niezgodność treści oferty z treścią SIWZ.
Dowody przeprowadzone w niniejszej sprawie nie wykazały zasadności czynionych
zarzutów naruszenia przez zamawiającego przepisów ustawy Prawo zamówień publicznych,
które miało istotny wpływ na wynik postępowania, tj: art. 89 ust. 1 pkt 2 ustawy przez
odrzucenie oferty odwołującego - za treść nieodpowiadającą treści specyfikacji istotnych
warunków zamówienia - odrzucenie złożonej oferty, w ocenie Izby znajdowało normatywne
wsparcie.
W tym stanie rzeczy Izba oddaliła odwołanie o czym orzekła na podstawie art. 192
ust. 1 ustawy Pzp.
O kosztach postępowania odwoławczego orzeczono stosownie do jego wyniku,
na podstawie art. 192 ust. 9 i 10 ustawy Pzp oraz w oparciu o przepisy § 3 rozporządzenia
Prezesa Rady Ministrów z dnia 15 marca 2010 r. w sprawie wysokości i sposobu pobierania
wpisu od odwołania oraz rodzajów kosztów w postępowaniu odwoławczym i sposobu ich
rozliczania (Dz. U. Nr 41, poz. 238).
Przewodniczący:
......…………………..
1. Oddala odwołanie.
2.
Kosztami postępowania obciąża odwołującego: Eurotek International Spółkę z
ograniczoną odpowiedzialnością Al. Lotników 32/46, 02-668 Warszawa,
2.1.
zalicza na poczet kosztów postępowania odwoławczego kwotę 15 000,00 zł
(słownie: piętnaście tysięcy złotych zero groszy) uiszczoną przez odwołującego:
Eurotek International Spółkę z ograniczoną odpowiedzialnością Al. Lotników
32/46, 02-668 Warszawa, tytułem wpisu od odwołania,
Stosownie do art. 198a ust. 1 i 198b ust. 1 i 2 ustawy z dnia 29 stycznia 2004 r. - Prawo
zamówień publicznych (Dz. U. z 2010 r. Nr 113, poz. 759) na niniejszy wyrok - w terminie 7
dni od dnia jego doręczenia - przysługuje skarga za pośrednictwem Prezesa Krajowej Izby
Odwoławczej do Sądu Okręgowego we Wrocławiu.
Przewodniczący:
…………......…………
Sygn. akt: KIO 538/13
U z a s a d n i e n i e:
W postępowaniu o udzielenie zamówienia publicznego, prowadzonym w trybie w
przetargu nieograniczonego „Na dostawę wraz z montażem i uruchomieniem i instruktażem
personelu aparatury naukowo badawczej, fabrycznie nowej i kompletnej dla potrzeb
Laboratorium Spektroskopii Optycznej, z podziałem na 2 części zamówienia” (Dz. Urz. UE z
dnia 29 września 2012 r., 2012/S 188 – 309243), w dniu 8 marca 2013 r. zostało złożone w
formie pisemnej odwołanie w zakresie części I-ej zamówienia przez wykonawcę Eurotek
International Spółkę z ograniczoną odpowiedzialnością z siedzibą w Warszawie, w kopii
przekazane zamawiającemu w terminie ustawowym.
Wniesienie odwołania nastąpiło skutkiem powiadomienia w dniu 28 lutego 2013 r. o
wyborze najkorzystniejszej oferty w ww. postępowaniu, a także o odrzuceniu oferty
odwołującego z uwagi na rzekomy - w ocenie odwołującego fakt - nie odpowiadania jej treści
warunkom postawionym w SIWZ.
dowód: pismo zamawiającego z dnia 25 lutego 2013 r.
Odwołujący zarzucił zamawiającemu: Wrocławskiemu Centrum Badań EIT + Sp. z
o.o. naruszenie przepisów ustawy z dnia 29 stycznia 2004 r. Prawo zamówień publicznych
(Dz. U. Nr 113 z 2010 r., poz. 759 ze zm.), ( dalej ustawa Pzp), które miało istotny wpływ na
wynik postępowania, tj.: naruszenie art. 89 ust. 1 pkt. 2 Pzp w tym znaczeniu, że
zamawiający wadliwie przyjął, iż treść złożonej oferty nie odpowiada treści SIWZ.
Powołując się na naruszenie swego interesu w uzyskaniu zamówienia, odwołujący
wnosił o nakazanie zamawiającemu:
1. dokonania ponownego badania i oceny ofert, w konsekwencji, którego żądał wyboru
firmy Eurotek International Sp. z o.o. z siedzibą w Warszawie do realizacji objętego
odwołaniem zamówienia,
2. obciążenie
zamawiającego
kosztami
postępowania
stosownie
do
wyniku
postępowania odwoławczego,
3. przeprowadzenie dowodu z dokumentów wskazanych w niniejszym odwołaniu na
okoliczności wskazane w jego treści.
W uzasadnieniu zgłoszonych zarzutów i żądań odwołujący ponosił, że w
zawiadomieniu o wyborze najkorzystniejszej oferty zamawiający wskazał, że odrzucenie
oferty Eurotek International Sp. z o.o. jest spowodowane m.in. brakiem odniesienia się przez
odwołującego do pytania w jaki sposób będzie możliwe wykonanie pomiaru próbki o czasie
zaniku nie dłuższym niż 40 ps. przy użyciu zaproponowanego w ofercie detektora
Hamamatsu R928 o czasie odpowiedzi 1.2 ns. Ponadto, zamawiający podniósł, że
zademonstrowany przez odwołującego w odpowiedzi na pytania przykład pomiarowy (czas
zaniku - 49.9 ps) nie spełnia nadal wymogów zamawiającego określonych w SIWZ.
Co do wymogu powtarzalności nastawy „Reproducibility” 0,1 nm zamawiający
wskazał, że uzyskanie pięciu powtarzalnych zapisów pojedynczego pomiaru nie jest
dowodem, że specyfikacja urządzenia zapewnia w sposób trwały spełnienie warunku
zapisanego w SIWZ.
Zamawiający w uzasadnieniu zawiadomienia o odrzuceniu oferty podniósł ponadto,
że odwołujący nie dołączył do odpowiedzi na pytania zamawiającego karty katalogowej
produktu, potwierdzającej wymaganą w SIWZ rozdzielczość 0,1 nm spektralnej rozdzielności
danych.
dowód: pismo zamawiającego z dnia 25 lutego 2013 r. oraz z dnia 23 stycznia 2013 r.
wezwanie do uzupełnienia oświadczeń i dokumentów.
Odnosząc się do ww. zarzutów przedstawionych jako uzasadnienie odrzucenia
złożonej oferty, odwołujący stwierdził, że ich treść jest niezgodna z merytoryczną treścią
materiałów dołączonych przez Eurotek International Sp. z o.o. na wezwanie zamawiającego
z dnia 23 stycznia 2013 r., a ponadto stanowi o nielogicznym przeprowadzeniu analizy oferty
przez zamawiającego i udzielonych na jego wezwanie odpowiedzi. Prawidłowa analiza
dokumentacji załączonej przez odwołującego, w jego przekonaniu - nie doprowadziłaby do
wniosku - konieczności odrzucenia przedstawionej oferty na podstawie art. 89 ust. 1 pkt 2 -
przy powołaniu się na rzekomą niezgodność oferty z treścią SIWZ – co odwołujący
uzasadniał jak niżej:
Po pierwsze podnosił, że zamawiający w pkt 1 wezwania do uzupełnienia
oświadczeń i dokumentów wskazał, że odpowiedź czasowa fotopowielacza Hamamatsu
R928 wynosi 1.2 ns. Odwołujący w odpowiedzi na wezwanie do uzupełnienia danych
konfiguracji urządzeń zaoferowanych w postępowaniu wskazał, że nie jest to zgodne z
rzeczywistością, załączając wyniki pomiarów na przyrządzie PTI z użyciem fotopowielacza
R928, gdzie uzyskana IRF jest znacznie krótsza niż postulowana przez zamawiającego i
wynosi 580 ps. Odwołujący wyjaśniał, że odpowiedź czasowa fotopowielacza zależy od
różnych czynników, między innymi od rozkładu napięcia podawanego na dynody. Jako
przykład wskazał publikację Ware’a et al., w której zademonstrowane zostało IRF = 300 ps
dla fotopowielacza R928 (W.R. Ware, M. Pratinidhi, R.K. Bauer, Rev. Sci. Instr., 54, 1983,
1148-1156). Odwołujący nadmienił, że powyższy fakt jest znany i dostępny od 30 lat.
Odwołujący stwierdził, że w odpowiedzi na wezwanie z dnia 25 stycznia 2013 r.
przedstawił dowody, iż postulowany przez zamawiającego IRF = 1.2 ns nie ma uzasadnienia.
W związku z powyższym, za niezrozumiały poczytał fakt ponownego powołania się przez
zamawiającego na ww. wartość IRF przy uzasadnieniu odrzucenia oferty odwołującego.
dowód: pismo jakie odwołujący skierował dnia 25 stycznia 2013 r. do zamawiającego
Odwołujący powoływał się na okoliczność, że wykazał również, iż tzw. „teoria” 10%
szerokości czasowej IRF jako wartości granicznej mierzalnego czasu życia jest
nieprawdziwa. Odwołujący dokonał zmierzenia czasu zaniku krótko żyjącej kurkuminy przy
użyciu fotopowielacza R928 (49.8 ps), który jest krótszy niż 10% użytego IRF i uzyskał dobrą
zgodność z opublikowanym czasem życia (52 ps).
Odwołujący podnosił, że nie ma wielu próbek z udokumentowanym tak krótkim
czasem zaniku fluorescencji (czyli standardów). Układ mierzący <50 ps z bardzo (dobrym
współczynnikiem chi2) dobrą zgodnością z literaturą zmierzy także zaniki <40 ps. Powyższa
okoliczność wynika z wykresu zaniku kurkuminy i IRF (zanik o czasie 2 razy krótszym będzie
jeszcze odróżnialny od IRF, czyli czas życia da się wyznaczyć).
Odwołujący poddawał w wątpliwość - z jakich powodów zamawiający ostatecznie
stwierdził „że czas zaniku 49.8 ps nadal nie spełnia wymogów zamawiającego zapisanych w
SIWZ”.
Także za niezrozumiałe poczytał nie uznanie przez zamawiającego podanego przez
odwołującego zapisu powtarzalności lepszej niż 0.1 nm, podczas gdy takie uznanie znajduje
się w zapisie w broszurze produktu. Podkreślał, że po pierwsze ten parametr został
zagwarantowany oficjalnym dokumentem producenta, po drugie zapis ten został dodany
przez odwołującego aby zilustrować to potwierdzenie. Dalej za niezrozumiałe uznał również -
dlaczego zamawiający przypuszcza, że inny zapis zawarty w broszurze jest lepszym
dowodem na „trwałe” spełnienie wymagań, niż „eksperymentalnie udokumentowana” przez
odwołującego specyfikacja.
Odnosząc się do trzeciego argumentu wskazanego w treści uzasadnienia odrzucenia
oferty odwołujący wskazał, że specyfikacja rozdzielczości dla oferowanego sprzętu wynosi
0.06 nm. Za prawdziwością ww. okoliczności przemawia informacja zawarta na stronie
www.pti-nj.com. Dana ta znajduje sie także w załączniku do oferty przetargowej na str. 24 i
26.
Z powyżej wskazanych względów, odwołujący uznał działanie zamawiającego
polegające na odrzuceniu złożonej oferty za nieprawidłowe, a podstawą przedmiotowej
decyzji - nie może być dyspozycja art. 89 ust. 1 pkt 2 Pzp.
Na wezwanie zamawiającego z dnia 11 marca 2013 r. pismem z dnia 13 marca
2013r., w kopii przesłanym stronom, zgłoszenie przystąpienia do postępowania
odwoławczego po stronie zamawiającego złożył wykonawca wybrany: Spectro-Lab Sp. z o.o.
z siedzibą w Łomiankach, który powoływał się na interes w utrzymaniu w mocy wyboru jego
oferty do realizacji zamówienia. Jednocześnie wnosił o oddalenie odwołania jako
bezpodstawnego. W piśmie z dnia 18 marca 2013 r., złożonym na rozprawie przystępujący
uzasadnił swoje stanowisko.
Izba postanowiła dopuścić wykonawcę: Spectro-Lab Sp. z o.o. do udziału w
sprawie, uznając, że jego interes w popieraniu stanowiska zamawiającego utrzymania
czynności wyboru złożonej oferty jako najkorzystniejszej jest niewątpliwy.
Zamawiający nie uwzględnił odwołania podtrzymał stanowisko wyrażone w
powiadomieniu o wynikach przetargu. W odpowiedzi na odwołanie z dnia 14 marca 2013r.
zamawiający podał:
„Pkt 1. Zmawiający w pkt 7 tabeli na stronie 12 specyfikacji określił wymóg zapisując
go w poniższym brzmieniu: „najkrótszy mierzalny czas zaniku: nie dłuższy niż 40 ps.”
Odwołujący się zademonstrował na konkretnym, pojedynczym przykładzie, że przy -
użyciu proponowanego zestawu pomiarowego jest w stanie uzyskać czas zaniku 49.9 ps,
który jest zbieżny z wartością literaturową. Jest to jednak czas zaniku dłuższy niż
Zamawiający określił w specyfikacji i jest jedynie czasem zbieżnym nie tożsamym z czasem
określonym warunkowo przez zamawiającego.
Ponadto zamawiający pragnie nadmienić, że stwierdzenie odwołującego, strona 5
Faxu podnosi, że z udokumentowanym, tak krótkim czasem życia fluorescencji (czyli
standardów). Układ mierzący <50 ps z bardzo dobrym współczynnikiem chi2), dobrą
zgodnością z literaturą, zmierzy także zanik <40ps. Powyższa okoliczność wynika z wykresu
zaniku karkuminy i IRF (zanik w czasie 2 razy krótszym będzie jeszcze odróżnialny od IRF,
czyli czas życia da się wyznaczy) jest bezpodstawne, gdyż dokonanie pomiaru zaniku z
dokładnością 49,9 ps nie gwarantuje zamawiającemu, że z wykorzystaniem oferowanego
urządzenia możliwy jest pomiar zaniku <40ps.
Zamawiającego pragnie zwrócić uwagę, że sam Odwołujący nadmienił, że istnieją
próbki (standardy) oferujące czas zaniku <40ps, jednakże Odwołujący takich danych nie
przedstawił, tym samym nie udowodnił tego faktu.
Tak więc Zamawiający ani w ofercie, ani w odpowiedzi na zapytanie nie otrzymał od
Oferenta jednoznacznych informacji technicznych producenta urządzenia, potwierdzających,
że jest możliwy pomiar czasów życia nie dłuższych niż 40 ps., mimo iż: Zamawiający o takie
między innymi informacje zwrócił się do Oferenta po otwarciu ofert, ale ich w odpowiedzi nie
otrzymał.
W tej sytuacji Zamawiający nie mógł stwierdzić, że oferta spełnia warunki- techniczne
określone w SIWZ, gdyż byłoby to niezgodne z podstawowym: zasadami ustawy Pzp.
Obowiązkiem zamawiającego było odrzucenia oferty niezgodnej z SIWZ.
Dodatkowo należy wskazać, że Zamawiający w zapytaniu po otwarciu ofert zwrócił
uwagę Oferentowi, że dostępne na stronie internetowej producenta informacje nie
potwierdzają deklaracji możliwości pomiarów czasów życia nie dłuższych niż 40 ps.
Informacje zawarte w odpowiedzi Oferenta nie pozwoliły Zamawiającemu usunąć
tych wątpliwości.
W związku z powyższym zamawiający podtrzymuje swoje stanowisko co do
niedopełnienia przez Odwołującego wymagań zawartych w SIWZ.
Zamawiający pragnie nadmienić, że uprawioną intencją Zamawiającego jest
stworzenie w miarę możliwości uniwersalnej pracowni Spektroskopii Optycznej, która będzie
umożliwiała jej użytkownikom wykonywanie szybkich i prostych pomiarów. Będąc częścią
infrastruktury naukowo-badawczej Wrocławskiego Centrum Badań EIT + pracownia ta
będzie w przyszłości użyczana grupom badawczym o różnym przygotowaniu i
doświadczeniu, dlatego też istotne jest to aby wykonywanie pomiarów nie nastręczało
trudności poprzez dobieranie wyrafinowanych parametrów pomiarowych, lub wielu
skomplikowanych
operacji
obliczeniowych.
Zamawiający
nie
planuje
utworzenia
eksperymentalnego stanowiska pomiarowego laboratorium pomiarowego, którego zadaniem
byłoby doskonalenie technik pomiarowych lecz nowoczesną placówkę oferującą na wysokim
poziomie pomiary, które można uznać za standardowe, do czego Zamawiający ma nie tylko
prawo ale i jest zobowiązany z tytułu projektu rządowego finansowanego ze środków UE.
Należy wskazać, że na stronach internetowych firmy Hamamatsu dostępna jest karta
produktu „photomultiplier tubes R 928 i dane te utwierdziły Zamawiającego w powziętych
wątpliwościach co do możliwości spełnienia warunku pomiarów czasów życia nie dłuższych
niż 40 ps. Z danych tych, (poniżej zrzut ekranowy ) wynika, że firma Hamamatsu gwarantuje
czas odpowiedzi detektora na poziomie 1,2 ns.”
Zamawiający zamieścił tabelę „charakterystyka parametrów [urządzenia].
„Odwołujący powołuje się o na pojedyncze przykłady, w tym także literaturowe, które
mówią o możliwości pomiarów czasów zaniku poniżej 10 % odpowiedzi aparatu, dla
pewnych konkretnych, specyficznych ustawień parametrów pomiarowych. Zamawiający w
specyfikacji określił, że takie pomiary winny być możliwe do wykonania w każdym możliwym
przypadku dla całego zakresu spektralnego. Dlatego pojedyncze przykłady potwierdzające
jedynie taką możliwość nie są żadną gwarancją, że tak będzie dla innych przypadków, na
przykład dla emisji w innych zakresach spektralnych.
Dlatego specyfikacja urządzenia wystawiona przez producenta winna jednoznacznie
potwierdzić spełnienie warunków zapisanych w SIWZ w każdych okolicznościach
pomiarowych. Zamawiający oczekuje i jest zobowiązany z tytułu projektu rządowego do
tego, że aparatura zapewni standardowo możliwość pomiarów o jakość opisanej w SIWZ.
Odwołujący neguje także stosowaną, powszechnie regułę, która mówi, że stosując:
dekonwolucję sygnału nie jest możliwa analiza zaników krótszych niż 10% czasu odpowiedzi
detektora, Reguła ta opisywana jest wzorem matematycznym: Zamawiający przedstawił
przywołany wyżej wzór (…). Jest przywoływana przez innych dostawców sprzętu
pomiarowego jak na przykład Horiba PicoQuant czy Boston Electronics Corporation.
Zamawiający nie rozumie i podważa to, dlaczego miałby stosować inne kryteria
merytoryczne niż powszechnie przyjęte i aprobowane dla analizy tego typu procesów.
Zamawiający uważa, że nieuwzględnianie tej zasady byłoby merytoryczną wadą
prowadzonej analizy.
W załączeniu broszury firmy Horiba, PicoOuant, Boston Electronics i Edynburg
Instruments, potwierdzające powszechną aprobatę przywołanej zależności do analizy
problemu.
Wobec powyższego Zamawiający nie mógł podjąć decyzji innej niż odrzucenie oferty,
gdyż żadna z informacji dostarczonych przez Oferenta nie pozwala na potwierdzenie
możliwości pomiarów czasów życia nie dłuższych niż 40 ps.
Pkt. 2. Jednym z parametrów zapisanych w SIWZ była powtarzalność nastawy -
powtarzalność nastawy winna być nie gorsza niż 0.1nm. W dokumentach dostarczonych
przez Odwołującego się (karty techniczne) Zamawiający nie znalazł informacji dotyczących
parametru. Przeglądając parametry zaoferowanego sprzętu na stronie internetowej.” Na
wskazanej stronie internetowej (…) „znajdowała się informacja, iż powtarzalność nastawy
(„Reproducibility") wynosi 0.25 nm. /poniżej: fragment zrzutu ekranowego internetowej strony
z dnia 08.01.2013, oraz jako załącznik kopia pdf strony internetowej). Zamawiający nie mógł
jednoznacznie ocenić, czy zaproponowana konfiguracja spełniała wymogi SIWZ i poprosił o
przedstawienie adekwatnych wyjaśnień.
stray light
10
Accuracy
+/- 0.5 nm
Reproducibilty
0.25 nm
Optical path height
76 mm
W odpowiedzi Odwołujący się przysłał wyniki pięciu pomiarów wykonanych dla
kryształów YAGDy wykonane w zakresie spektralnym 454.5 – 625 nm, wykazując dla tych
pięciu pomiarów bardzo dobrą powtarzalność wyników. Jednakże wynik pięciu wykonanych
w stosunkowo wąskim zakresie spektralnym dla bardzo dobrze emitującego kryształu,
Zamawiający uznał za niewystarczający dowód trwałej powtarzalności pomiarów. Ponadto do
uzupełnień Odwołujący dołączył oświadczenie przygotowane przez Photon Technology
International, dokumentujące fakt przeprowadzenia pomiarów w laboratorium firmy PTI.
Zamawiający chce także zwrócić uwagę, że do oferty Odwołującego już wcześniej
dołączone były dwa oświadczenia firmy PTI - potwierdzające wymagany w SIWZ stosunek
sygnału do szumu oraz prędkość skanowania w czasie spektralnej akwizycji danych.
Wobec jednoznaczności dwóch wymienionych oświadczeń, Zamawiający w dobrej
wierze zaakceptował oba. Jednakże w przypadku powtarzalności nastawy oświadczenie PTI
poświadczało jedynie wykonanie pomiarów w laboratorium PTI z użyciem fotopowielacza
Hamamatsu R928 oraz przyrządu Quanta Master 40 wyposażonym w dwa monochromatory.
PTI nie stwierdził więc w swoim oświadczeniu, że gwarantuje spełnienie powtarzalności
nastawy z dokładnością 0.1 nm, a jedynie, że w pięciu konkretnych pomiarach taka
powtarzalność została osiągnięta. Innymi słowy oświadczenie PTI w tym przypadku nawet
nie próbuje stwierdzać, że taka dokładność jest w oferowanym urządzeniu gwarantowana.
W świetle powyższych, okoliczności; Zamawiający nadal uznaje wyniki pięciu
pomiarów za niewystarczające by przyjąć, że spełniony jest zapis SIWZ odnośnie tego
parametru.
Ponadto zwrócić należy uwagę, że w swojej odpowiedzi wezwany do uzupełnień
Odwołujący nie zaprzeczył, że informacja o powtarzalności nastawy 0.25 nm znajduje się na
stronie internetowej, nie stwierdził też, że jest to informacja np. przestarzała, czy z
jakichkolwiek innych powodów nieprecyzyjna.
Chcemy zaznaczyć, iż w ostatnich dniach informacja ta na stronie internetowej
została zmieniona na 0.1 nm, ale na etapie analizy ofert i podejmowania decyzji
Zamawiający dysponował jedynie informacjami powyżej przywołanymi, i żadna z nich nie
pozwalała stwierdzić, że parametr powtarzalności nastawy określony w SIWZ na 0.1 nm jest
przez oferowane urządzenie w całym zakresie jego pracy spełniony.
Zamawiający w żadnym wypadku nie traktuje zapisów w broszurze produktu jako lepszych,
ani gorszych, odnosi się jedynie do potwierdzonych, jednoznacznie określonych parametrów,
gdyż tylko tak postąpić może, a jednocześnie musi patrząc na procedury ustawy Pzp.
Pkt 3. W tabeli na stronie opisu technicznego (strona 15 oferty) Odwołujący wpisał
numer katalogowy urządzenia Q73-B, do którego karta katalogowa znajduje się na stronie 22
- Qante Master 40 Steady State Spectrofluorymeter with Q-73B NIR Upgrade – i wskazuje
rozdzielczość 0.25 nm (zamiast wymaganych w SIWZ 0.1 nm - strona 12 wiersz 9
Spektralna rozdzielczość danych nie mniej niż 0.1 nm). W związku z tym Zamawiający
wezwał Odwołującego do złożenia uzupełnień i wyjaśnienia jaka jest w rzeczywistości
rozdzielczość proponowanego sprzętu.
Po wezwaniu do wyjaśnień Odwołujący przyznał, że omyłkowo załączył starą kartę
katalogową, ale nie dostarczył nowej, stwierdził jedynie, że specyfikowany parametr wynosi
0.06 nm.
W swoim Odwołaniu, Odwołujący powołuje się na dane zawarte na stronach 24 i 26
oferty, jednakże należy zauważyć, że dane w ofercie stronach 24 i 26 dotyczą opcji
QuantaMaster 40 i Ouanta Master 30*, a nie Quanta Master 40 Steady State
Spectrofluorymeter with Q-73B NIR Upgrade wymienionego w tabeli 1. Zamawiający
stwierdził więc, zgodnie z rzeczywistością, że nie otrzymał dokumentacji potwierdzającej
spełnienie parametru rozdzielczości na poziomie 0.1 nm.
W tych okolicznościach Zamawiający musiał stwierdzić, że przedmiotowa oferta nie
spełnia wszystkich parametrów zapisanych w SIWZ, a więc i konsekwentnie ofertę odrzucić
na podstawie przepisów ustawy Pzp.”
Izba nie stwierdziła podstaw do odrzucenia odwołania w oparciu o art. 189 ust. 2
ustawy Pzp.
Izba dopuściła i przeprowadziła dowody: z protokołu postępowania, z ogłoszenia o
zamówieniu,
specyfikacji
istotnych
warunków
zamówienia,
oferty
odwołującego,
korespondencji stron. Nadto, Izba rozważyła stanowiska stron i uczestnika, przedstawione w
pismach oraz do protokołu rozprawy. Zamawiający na rozprawie nie podtrzymał zgłoszonego
ewentualnie dowodu z opinii biegłego ustanowionego w sprawie – zatem Izba nie dopuściła i
nie przeprowadziła takiego dowodu.
Rozpatrując odwołanie w granicach podnoszonych zarzutów stosownie do art. 192
ust. 7 ustawy Pzp Izba ustaliła, co następuje.
Przedmiot zamówienia stanowi: „dostawę wraz z montażem i uruchomieniem i
instruktażem personelu aparatury naukowo badawczej, fabrycznie nowej i kompletnej dla
potrzeb Laboratorium Spektroskopii Optycznej, z podziałem na 2 części zamówienia”.
Szacunkowa wartość zamówienia przekracza kwotę wskazaną w przepisach wydanych na
podstawie art. 11 ust. 8 ustawy Prawo zamówień publicznych.
Specyfikacja Istotnych Warunków Zamówienia (SIWZ) postanawia:
Dział III.
4. Wykonawca musi zaoferować przedmiot zamówienia zgodny z wymogami
Zamawiającego określonymi w SIWZ, przy czym zobowiązany jest dołączyć do oferty
jego szczegółowe opisy techniczne i/lub funkcjonalne w tym katalogi, opisy
techniczne producenta, pozwalające na ocenę spełnienia przez oferowane
urządzenia i sprzęt co najmniej parametrów minimalnych.
5. W przypadku złożenia oferty, w której zostanie zaoferowany przedmiot zamówienia o
parametrach równoważnych – wykonawca zobowiązany jest złożyć oświadczenie, że
oferta jest równoważna z opisem przedmiotu zamówienia w załączniku nr 1
formularzu oferty oraz powinien udokumentować równoważność rozwiązań.
Zamawiający korzystając ewentualnie z opinii rzeczoznawców dokona oceny
zaproponowanych rozwiązań pod kątem ich równoważności. W przypadku
wątpliwości obowiązek udowodnienia równoważności złożonej oferty spoczywa na
wykonawcy.
6. Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia i inne wymagania zamawiającego
zawierają dokumenty wymienione w tabeli 1.
- opis przedmiotu zamówienia pkt 7,
- opis przedmiotu zamówienia w załączniku nr 6 do SIWZ.
Urządzenia składające się na część I oferty, w tym:
- Specyfikacja Wymagań Użytkownika - spektofluorymetr,
- Specyfikacja Wymagań Użytkownika - laser UV-VIS-IR.
W Dziale VI pkt. 11.1 SIWZ Zamawiający wymagał w celu potwierdzenia, że oferowana
dostawa odpowiada jego wymaganiom, aby do oferty załączone zostały: „prospekty i/lub
foldery ofertowo-reklamowe sprzętu i/lub dokumentacja producenta; wskazane jest, aby
parametry techniczne prezentowane w załączonych prospektach odpowiadały parametrom
technicznym opisanym w załączniku nr 6 do SIWZ. Jeżeli w prospekcie technicznym brak
opisu danej funkcji aparatu lub wartości parametru, dopuszcza się załączenie do oferty
innych dokumentów producenta (np. części instrukcji obsługi), na podstawie których
Zamawiający będzie w stanie zweryfikować zgodność opisu funkcji lub wartości danego
parametru z treścią załącznika nr 6 do SIWZ.
Załącznik nr 6 Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia opracowany przez firmę M+W
według spisu z tabeli nr 1 w dziale III SIWZ, dostosowany przez zamawiającego do potrzeb
przedmiotowego zamówienia.
Załącznik nr 1 wzór formularza oferty.
Część A wspólna dla wszystkich części zamówienia (2).
Część B osobno dla każdej części I-II.
SIWZ zawiera uwagę: Powyższy opis stanowi obligatoryjnie wymagane parametry lub
funkcje. W przypadku parametrów lub funkcji lepszych niż minimalne należy je podać opisać
– nie spełnienie chociażby jednego z parametrów lub funkcji obligatoryjnych spowoduje
odrzucenie oferty.
Dział XI termin składania ofert został wyznaczony do 29 listopada 2012 r.
Dział XIII kryterium wyboru oferty została ustanowiona najniższa cena.
W formularzu oferty pkt 11) odwołujący podał, że opis równoważności go nie dotyczy.
Odwołujący zaoferował spektrofluorymetr typ Quanta Master QM -40 High Sensitivity z
wybranymi opcjami. Producent Photon Technology International; Nr katalogowy: QM-40;Q-
4G; S-73;S-171; S73B;K-158 rok produkcji 2012/2013.
Wykonawca złożył oświadczenie, że oferowana aparatura urządzenie jest kompletna
fabrycznie nowa i posiada niżej wymienione wyposażenie oraz cechy techniczno jakościowe
(parametry, funkcje), w tym:
Pkt 7. Powtarzalność nastawy winna być nie gorsza niż 0.1. Oświadczenie wykonawcy TAK:
0,1 nm
Odwołujący zaoferował jako laser UV-VIS-IR – spektrofluorymetr kinetyczny Typ Pico
Master; Producent Photo Technology International; model PicoMaster Fianium; ogólnie
wskazał numery katalogowe, w tym Q-73B.
Pkt 7. Najkrótszy mierzalny czas zaniku: nie dłuższy niż 40 ps. Oświadczenie wykonawcy:
TAK: <40ps TCSPC.
Pkt 9. Spektralna rozdzielczość danych: nie mniej niż 0.1 nm. Oświadczenie wykonawcy:
TAK: 0.06 nm.
Odwołujący przedstawił opisy oferowanego urządzenia lasera na stronach 15-16 oferty oraz
na stronach 19-21 – dla spektrofluorymetru, w którym wskazał odniesienie do
poszczególnych wymagań minimalnych, z przytoczeniem odnośnego numeru katalogowego.
Odwołujący zamieścił w dokumentach oferty zbiór kart katalogowych producenta urządzenia
(modułów).
Zamawiający w trakcie badania ofert ujawnił braki i nieścisłości w ofercie odwołującego w
związku z czym pismem z dnia 23 stycznia 2013 r. – wezwał wykonawcę do uzupełnienia
oświadczeń i dokumentów, j.n.:
„Działając na podstawie art. 87 ust 1 ustawy z dnia 29 stycznia 2004 r. Prawo zamówień
publicznych (Dz. U. z 2010 r. Nr 113, poz. 759 z późn. zm.) Zamawiający wzywa do
udzielenia wyjaśnień dotyczących treści złożonych ofert.
W związku z niemożliwością jednoznacznej oceny parametrów urządzeń zaoferowanych
przez Państwa firmę w przetargu nr ZP/(M/D/PN/2012 uzupełnionych danych konfiguracji
urządzeń zaoferowanych (Załącznik nr 1 do SIWZ - Wzór Formularza Oferty - Część B),
Dostarczone opisy i parametry oraz dane techniczne powinny w jednoznaczny sposób
stwierdzać implementację nw. punktów:
Część I – dot. Laser UV-VIS-IR:
1. W Formularzu Oferty Część B Główne funkcje urządzenia w punkcie 4; Specyfikacja
wymaga, aby zaproponowane rozwiązanie umożliwiało pomiar czasów zaniku nie dłuższych
niż 40 ps. Po uwzględnieniu pytań zadanych w trakcie procedury przetargowej Zamawiający
zgodził się na dopuszczenie piko sekundowego źródła wzbudzenia 390-2000 nm. Państwa
oferta zakłada pomiar czasów życia przez dekonwolucję. Po zapoznaniu się na stronach
firmy Hamamatsu (…) z parametrami technicznymi zaproponowanego fotopowielacza
Zamawiający nie rozumie, w jaki sposób możliwe będzie wykonanie pomiarów dla czasów
zaniku nie dłuższych niż 40 ps? W ocenie Zamawiającego powyżej 900 nm, gdzie
zaproponowanym detektorem jest detektor inGaAs nie jest w ogóle możliwy pomiar
pikosekundowych czasów zaniku, a w zakresie do 900 nm, detektorem jest fotopowielacz
Hamamatsu R928 z czasem odpowiedzi 1,2 ns możliwe są pomiary jedynie czasów zaniku
nie krótszych niż 120 ps, (Zgodnie z teorią, stosując dekonwolucję: nie jest możliwa analiza
zaników krótszych niż 10% czasu odpowiedzi detektora). W związku z tym Zamawiający nie
może jednoznacznie ocenić, czy zaproponowana konfiguracja spełnia SIWZ i prosi o
przedstawienie adekwatnych wyjaśnień.
Część l – dot. Laser UV-VIS-IR:
2. W Formularzu Oferty Część B Główne funkcje urządzenia w punkcie 9;
Specyfikacja wymaga, aby „spektralna rozdzielczość danych: nie mniej niż 0,1 nm”
tymczasem w załączonej Ofercie na stronie 22 dotyczącej QuantaMaster 40 znajduje się
informacja „Resolution 0,25" nm. Zamawiający stwierdza, iż w tej sytuacji nie może
jednoznacznie ocenić czy Państwa oferta jest zgodna z SIWZ i prosi o złożenie wyjaśnienia
w tej sprawie.
Część I - dot. Spektrofluorymetr:
3. W Formularzu Oferty Część B Główne funkcje urządzenia w punkcie 7:
Specyfikacja wymaga, aby „Powtarzalność nastawy powinna być nie gorsza niż 0.1 nm” Na
stronie
internetowej
(…)
Znajduje
się
informacja,
iż
powtarzalność
nastawy
(„Reproducibility”) wynosi 0.25 nm. Zamawiający nie może jednoznacznie ocenić, czy
zaproponowana konfiguracja spełnia wymogi SIWZ i prosi o przedstawienie adekwatnych
wyjaśnień.
Prosimy zatem o przesłanie wyjaśnień przez które rozumiemy zarówno Państwa wyjaśnienia
w formie osobistego oświadczenia wiedzy jak i złożenie stosownych/odpowiednich
prospektów i/lub folderów ofertowo-reklamowych sprzętu i/lub dokumentacji producenta, z
których jasno wynika, iż parametry techniczne prezentowane w ww. dokumentach
odpowiadają parametrom technicznym opisanym w Załącznikach Nr 1 i 6 do SIWZ. Jeżeli w
prospekcie technicznym brak opisu danej funkcji aparatu lub wartości parametru, dopuszcza
się załączenie do oferty innych dokumentów producenta (np. część instrukcji obsługi), wg
których Zamawiający będzie w stanie zweryfikować zgodność opisu funkcji lub wartości
danego parametru.”
Zamawiający wyznaczył termin na udzielenie wyjaśnień do dnia 31 stycznia 2013 r.
Pismo odwołującego z dnia 25 stycznia 2013 r. - odpowiedź na wezwanie do uzupełnienia
oświadczeń i dokumentów.
„W odpowiedzi na wezwanie do uzupełnienia danych konfiguracji urządzeń zaoferowanych
w niniejszym postępowaniu, poniżej wyjaśniamy podniesione w wezwaniu kwestie. Poniższe
wyjaśnienie jest zilustrowane przykładami pomiarowymi w załączonym dokumencie „Dane
testowe"
l. Część I - dot. Laser UV-VIS-IR.
Główne funkcje urządzenia w punkcie 4. Na pytania w punkcie l. odpowiadamy, co
następuje.
1. W opisie technicznym oferty podaliśmy parametry pomiaru zaników emisji w
poszczególnych zakresach: (i) 185-900 nm CW, mikro, mili i pikosekundowe, (ii) 900-2200
nm - mikro, mili sek i CW. SIWZ wskazuje jedynie zakresy wzbudzenia dla pomiarów
pikosekundowych (pkt. 4.), a nie precyzuje tego w odniesieniu do detekcji. Ponieważ w
całym wymaganym zakresie emisji nie jest praktycznie możliwy pomiar emisyjny z
wymaganą dokładnością (w zakresie 1700-2200 nm), założyliśmy, że Zamawiający
pozostawia tę sprawę do uznania oferenta. Nasza oferta wskazuje, w którym zakresie można
mierzyć pikosekundowe czasy zaniku w zaoferowanej konfiguracji.
2. Dolna granica mierzalności zaniku fluorescencji z użyciem proponowanego
fotopowielacza. PTI selekcjonuje detektory pod względem dokładności pomiaru. Wybiera się
je m. in. pod kątem rozrzutu czasu przelotu i fluktuacji czasów narastania. Ponadto PTI
używa
indywidualnie
dostosowanej
elektroniki
pomiarowej
(gniazdo
PMT,
przedwzmacniacze itd.). Nasza oferta jest oparta o udokumentowane pomiary testowe.
Zaznaczamy, że przytoczona w piśmie reguła „10% czasu odpowiedzi" jest przybliżona.
Granica pomiaru z użyciem procedur dekonwolucji zależy w decydującej mierze od jakości
statystycznej pomiaru. W tym także precyzji i staranności w pomiarze czasowej „funkcji
odpowiedzi aparatury" (IRF) i mierzonego zaniku. Szczególnie ważne jest to przy pomiarze
próbek stałych ze względu na poziom światła rozproszonego w sygnale emisji.
Na dowód powyższego przytaczamy pomiar szybkiej kinetyki znanego wzorca -kurkuminy -
w roztworze w cykloheksanie. Dane testowe, rys. 1. Szerokość połówkowa IRF wynosi 0.58
ns, zaś czas zaniku fluorescencji wyliczony z dekonwolucji - 49.8 (+/-2.2) ps.
Referencyjny czas zaniku tej substancji (S. M. Khopde, K. L Priyadarsini, D.K. Palit and T,
Mukherji, Effect of Solvent on the Excited-State Photophysical Properties of Curcumin,
Photochem. Photobiol, 2000, 72(5), 625-631) wynosi 52 ps.
2.
Część I -dot. Laser UV-VIS-IR.
Główne funkcje urządzenia w punkcie 9. Na pytania w punkcie 2. odpowiadamy co
następuje.
Oferowany spektrofluorymetr z rodziny QuantaMaster ma podwójne monochromatory
zarówno w torze wzbudzenia, jak i emisji. Potwierdzamy specyfikowany w ofercie parametr
rozdzielczości spektralnej monochromatora na 0.06 nm. Do oferty załączyliśmy omyłkowo
starszą wersję karty katalogowej. Bieżące dane wskazują rozdzielczość 0.06 nm.
3.
Część I - dot. Spektrofluorymetr.
Główne funkcje urządzenia (…).
Na pytania w punkcie 3 odpowiadamy co następuje.
Potwierdzamy specyfikowany w ofercie parametr powtarzalności nastawy na 0,1 nm.
Ilustrujemy dokładność przyrządu powtórzonymi przebiegami pomiaru widma linii ok 496.4
nm kryształu DYAG (Dane testowe, rys. 3.). 5 kolejnych zapisów ma błąd powtarzalności
poniżej 0.1 nm.
W odniesieniu do pytań dla części I informujemy, że spektrofluorymetr QM-40 ma charakter
modułowy. W zależności od wymagań, stosowane są pojedyncze lub podwójne
monochromatory 200 mm ( M102 lub 2xM102) oraz monochromatory 300 mm. Podobnie
napędy i sterowniki monochromatorów są dopasowywane do wymaganych parametrów
„dokładności" spektralnej. Widoczne na stronie producenta są konfiguracje standardowe.
Nasza oferta wskazywała na użycie monochromatorów podwójnych.
Załącznikiem do tego wyjaśnienia jest dokument „Pomiary testowe wykonane
spektrofluorymetrem QM-40 z fotopowielaczem R 928." Konfiguracja z monochromatorem
podwójnym (2 str.) oraz list z Photon Technology International Inc. z dnia 28 stycznia 2013 r.
poświadczający wykonane pomiary testowe” „Niniejszym potwierdzam, że wyniki załączone
w dokumencie „Dane testowe” zostały wykonane w laboratorium PTI z użyciem standartowej
aparatury. Pomiar zaniku kurkuminy został wykonany przy wzbudzeniu dioda laserowa 375
nm i z użyciem fotopowielacza R928 Hamamatsu pracującym w trybie zliczania
pojedynczych fotonów. Powtarzalność zapisu widma emisji z użyciem kryształu DYAG
została zmierzona na przyrządzie QuantaMaster-40 wyposażonym w podwójne
monochromatory.”
Na część I zamówienia zastały złożone 2 oferty odwołującego oraz przystępującego.
Pismem z dnia 25 lutego 2013 r. - zawiadomieniem o wyborze oferty dla części I,
zamawiający uznał ofertę przystępującego Spectro-Lab Sp. z o.o. z ceną brutto 2 398 500,00
zł za najkorzystniejszą. Jednocześnie zamawiający odrzucił ofertę odwołującego (z ceną
1 195 708,95 zł brutto) na podstawie art. 89 ust. 1 pkt 2 ustawy Pzp jako nieodpowiadającej
treścią SIWZ, z następującym uzasadnieniem: „Zamawiający specyfikując aparaturę
naukowo-badawczą na potrzeby Laboratorium Spektroskopii Optycznej miał na celu zakup
urządzenia umożliwiającego prowadzenie badań i uzyskiwanie rezultatów o odpowiedniej
jakości oraz specyficznych parametrach, dlatego też:
- w przypadku pomiaru czasów zaniku nie dłuższych niż 40ps Firma Eurotek zaznacza, że
reguła 10% czasu odpowiedzi detektora jest regułą przybliżoną przytaczając dane
literaturowe oraz wyniki własnych pomiarów, w których wykazuje, że dla IRF 0.58 ns (580 ps)
możliwy jest pomiar czasu zaniku (policzonego przez dekonwolucję) 49.8(+/- 2.2) ps
(referencyjny czas zaniku substancji z danych literaturowych - 52 ps). Ponadto Firma
Eurotek w udzielonych odpowiedziach, nie odnosi się do pytania jak używając detektora
Hamamatsu R928 - zaproponowanego w ofercie, o czasie odpowiedzi 1.2 ns możliwe będzie
wykonanie pomiaru próbki o czasie zaniku nie dłuższym niż 40 ps. Firma Eurotek twierdzi, że
reguła 10 % mimo, iż przybliżona pozostaje w mocy, i mimo zakładania staranności w
doborze gniazd pomiarowych krytycznym parametrem pozostaje czas odpowiedzi
fotopowielacza, czyli tym samym detektor ten nie jest odpowiedni dla tak krótkich czasów
zaniku (poniżej 40ps, ponieważ 10% 1.2 ns, wynosi 120 ps). Ponadto zademonstrowany
przykład pomiarowy - czas zaniku 49.8 ps, nadal nie spełnia wymogów Zamawiającego
zapisanych w SIWZ,
- w przypadku wymogu powtarzalności nastawy „Reproducibility" 0.1 nm dołączona
specyfikacja przetargowa, jak i informacje znalezione na stronie internetowej producenta
podają wartość 0.25nm. Zdaniem Zamawiającego uzyskanie pięciu powtarzalnych zapisów
pojedynczego pomiaru nie jest dowodem, że specyfikacja urządzenia zapewnia w sposób
trwały spełnienie wymaganego warunku zapisanego w SIWZ.
- w przypadku wymogu spektralnej rozdzielczości danych, nie mniej niż 0,1 nm specyfikacja
techniczna Firmy Eurotek zawiera wartość 0,25nm. Firma Eurotek w odpowiedzi na pytania
stwierdza, że wartość ta została umieszczona omyłkowo, jednakże do odpowiedzi nie
została dostarczona karta katalogowa produktu potwierdzająca wymagana w SIWZ
rozdzielczość 0,1 nm, a w opinii Zamawiającego Oświadczenie Oferenta nie jest
wystarczającym potwierdzeniem spełnienia parametru.
Zamawiający na podstawie udzielonych wyjaśnień Firmy Eurotek stwierdza, że oferta jest
niezgodna z wymaganiami w SIWZ, oferta nie spełnia wymagań SIWZ, wobec czego
Zamawiający zobowiązany jest odrzucić przedmiotową ofertę.”
Izba zważyła, co następuje.
Odwołujący, wykazał legitymację do wniesienia odwołania w rozumieniu art. 179 ust.
1 ustawy Pzp - skoro jego oferta, jako zawierająca korzystniejszą cenę niż wybranego
wykonawcy - została odrzucona. Był zatem uprawniony aby skarżyć - jak dowodził -
niezgodne z ustawą Pzp czynności i zaniechania zamawiającego wobec oceny złożonej
oferty, które godziły w interes odwołującego w uzyskaniu zamówienia i mogły narażać
odwołującego na poniesienie szkody.
Przytaczane powyżej postanowienia SIWZ w odniesieniu do wykazania spełnienia
przez oferowane dostawy wymagań określonych przez zamawiającego pozostają w
zgodności z regulacją art. 25 ust. 1 pkt 2) ustawy Pzp. Przepis ten upoważnia
zamawiającego do żądania oświadczeń lub dokumentów potwierdzających spełnianie przez
oferowane dostawy wymagań określonych w SIWZ. Zakres dokumentów, które mogą być
wymagane określa § 5 ust. 1 rozporządzenia Prezesa Rady Ministrów z dnia 30 grudnia
2009 r. w sprawie rodzajów dokumentów, jakich może żądać zamawiający od wykonawcy,
oraz form, w jakich te dokumenty mogą być składane (Dz. U. Nr 226 poz. 1817), które
obejmują między innymi: opisy urządzeń technicznych, instrukcje obsługi.
W myśl art. 82 ust. 3 ustawy Pzp, treść oferty musi odpowiadać treści specyfikacji
istotnych warunków zamówienia. Zgodność treści oferty z treścią specyfikacji jest
zapewniona wówczas, gdy na podstawie analizy i porównania treści obu tych dokumentów
można uznać, iż postanowienia zawarte w ofercie nie są inne, tj. nie różnią się w swej treści
od postanowień zawartych w specyfikacji istotnych warunków zamówienia. Przepis art. 89
ust. 1 pkt 2 ustawy Pzp wskazuje natomiast, że zamawiający odrzuca ofertę, jeżeli jej treść
nie odpowiada treści specyfikacji istotnych warunków zamówienia, z zastrzeżeniem art. 87
ust. 2 pkt 3 ustawy.
Sformułowanie przepisu sprawia, że w sytuacji wystąpienia tejże przesłanki
zamawiający ma obowiązek, a nie uprawnienie do odrzucenia oferty. Norma art. 89 ust. 1 pkt
2 ustawy Pzp odnosi się zaś do merytorycznego aspektu zaoferowanego przez wykonawcę
świadczenia oraz merytorycznych wymagań zamawiającego, w szczególności co do
zakresu, ilości, jakości, właściwości, warunków realizacji i innych elementów, którym
zamawiający nadał rangę istotnych - dla wykonania zamówienia. Niezgodność treści oferty z
treścią SIWZ ma miejsce w sytuacji, gdy oferta nie odpowiada w pełni przedmiotowi
zamówienia, nie zapewniając jego realizacji w całości zgodnie z wymogami zamawiającego
(wyrok KIO z dnia 24 października 2008 r., sygn. akt KIO/UZP 1093/08). W orzecznictwie
Izby podkreśla się, że niezgodność treści oferty z treścią SIWZ powinna być oceniania z
uwzględnieniem definicji oferty zawartej w art. 66 K.c., tj. niezgodności oświadczenia woli
wykonawcy z oczekiwaniami zamawiającego, odnoszącymi się do merytorycznego zakresu
przedmiotu zamówienia, a więc materialnej sprzeczności zakresu zobowiązania zawartego w
ofercie z zakresem zobowiązania, którego spełnienia zamawiający oczekuje - zgodnie z
postanowieniami SIWZ. Postanowienia SIWZ zostały ostatecznie ukształtowane, a na etapie
oceny ofert brak było podstaw do rewidowania ich treści, zatem wszyscy uczestnicy
przetargu, jak i sam zamawiający - byli związani opisem przedmiotu zamówienia i sposobu
spełnienia wymagań, zamieszczonym w SIWZ.
Przechodząc do rozpatrzenia zarzutów odwołania, Izba w pierwszej kolejności
stwierdziła, że treść oferty w przedmiotowym postępowaniu wyznacza Załącznik nr 1
wypełniony formularz oferty, część A wspólna dla wszystkich części zamówienia oraz część
B osobno dla każdej z części zamówienia, podający zaoferowane przez wykonawcę w
kolumnie 3 faktycznie posiadane parametry oferowanego urządzenia. Ponadto, za treść
oferty odwołującego wykonawcy należało przyjąć w odniesieniu do urządzenia
spektrofluorymetru – opis własny zawarty na stronie 19-21 dokumentów oferty, oraz opis
własny lasera UV-VIS-NIR zawarty odpowiednio na stronie 15-16, w odniesieniu do
wyspecyfikowanych w punktach wymagań zamawiającego podanych w tabelach w
Formularzu Oferty Część B – Główne funkcje urządzenia. W dokumentach tych odwołujący
podał odniesienie zamieszczonego opisu do wskazanych punktów wymagań oraz numer
katalogowy karty (specyfikacji) producenta, dla których w oparciu o zawarte tam dane,
zamawiający mógłby zweryfikować deklarowane przez odwołującego właściwości i
parametry oferowanych urządzeń.
Opisane: - „prospekty i/lub foldery ofertowo reklamowe sprzętu i/lub dokumentacja
producenta; wskazane jest, aby parametry techniczne prezentowane w załączonych
prospektach odpowiadały parametrom technicznym opisanym w załączniku nr 6 do SIWZ.
Jeżeli w prospekcie technicznym brak opisu danej funkcji aparatu lub wartości parametru,
dopuszcza się załączenie do oferty innych dokumentów producenta (np. części instrukcji
obsługi), na podstawie których Zamawiający będzie w stanie zweryfikować zgodność opisu
funkcji lub wartości danego parametru z treścią załącznika nr 6 do SIWZ” – stanowiły zaś
dokumenty na potwierdzenie, że oferowane dostawy spełniają wymagania określone przez
zamawiającego – w rozumieniu art. 25 ust. 1 pkt 2) ustawy Pzp.
Dokumenty przedmiotowe na potwierdzenie, że oferowany wyrób spełnia wymagania
zamawiającego, w przeciwieństwie do dokumentów kreujących treść oferty, podlegają
uzupełnieniu na wezwanie zamawiającego w oparciu o art. 26 ust. 3 ustawy Pzp, który
stanowi, że zamawiający wzywa wykonawców, którzy w określonym terminie nie złożyli
wymaganych przez zamawiającego oświadczeń lub dokumentów, o których mowa w art. 25
ust. 1 ustawy Pzp. Z wyłączeniem przypadku opisanego w art. 87 ust. 2 pkt 3 ustawy Pzp,
przepis art. 87 ust. 1 tej ustawy zabrania zarówno prowadzenia negocjacji dotyczących
złożonej oferty oraz (…) dokonywanie jakichkolwiek zmian w jej treści.
Izba natomiast weryfikuje czynności zamawiającego w oparciu o warunki ustalone w
przetargu i specyfikację udostępnioną wykonawcom, której postanowienia są wiążące.
Pomimo zadeklarowania przez odwołującego spełnienia wszystkich wymaganych
parametrów, zamawiający biorąc pod uwagę zestawienie treści oferty (deklarowanego
zobowiązania wykonawcy) - z przedłożonymi na potwierdzenie specyfikacjami producenta
(kartami katalogowymi) a także przy braku ich wskazania - powziął wątpliwości co do
spełnienia przez oferowane przez odwołującego urządzenia wymagań SIWZ w odniesieniu
do:
- pkt 4,7 i 9 części I – dot. lasera UV-VIS-IR,
- oraz pkt 7 dotyczącej spektrofluorymetru.
Zamawiający uznał złożone w wyniku wezwania wyjaśnienia oraz przedłożone
dodatkowo dokumenty za nie potwierdzające spełnienia postawionych wymagań, w
odniesieniu do:
- pkt 7 i 9 części I – dot. lasera UV-VIS-IR,
- oraz pkt 7 - dotyczącej spektrofluorymetru.
Z tych też względów oferta odwołującego została odrzucona.
W oparciu o przeprowadzone postępowanie dowodowe w sprawie, Izba podzieliła
stanowisko zamawiającego oraz przystępującego, że treść oferty odwołującego nie
odpowiada treści specyfikacji istotnych warunków zamówienia.
W odniesieniu do wymaganego parametru 7 – główne funkcje urządzenia lasera UV-
VIS-IR Pico Master Fianium – najkrótszy mierzalny czas zaniku nie dłuższy niż 40 ps,
odwołujący w formularzu oferty zaoferował ten parametr na wymaganym poziomie –
mniejszym niż 40 ps. Pominął jednak dokonanie opisu technicznego tegoż parametru na
stronach 15 i 16 swojej oferty, przez co treść oferty w tym zakresie nie pozostawała spójna i
kompletna. Nie wskazał też oznaczonego numeru karty katalogowej producenta, która
jednoznacznie potwierdzałaby, iż oferowane urządzenie w rzeczywistości taką cechą się
charakteryzuje. Dopiero na wezwanie zamawiającego, odwołujący przedstawił dokument nie
dopuszczany przez zamawiającego, t.j. - wyniki pomiarów testowych zaniku kurkuminy,
wykonane spektrofluorymetrem QM-40 z fotopowielaczem Hamamatsu R 928, konfiguracja z
monochromatorem podwójnym, a o dopuszczeniu wyników badań i ich przedstawieniu w
ofercie zamawiający nie mówił ani w SIWZ ani w wezwaniu do złożenia wyjaśnień. Jednakże
nawet przedstawione wyniki nie wykazywały spełnienia wymagania najkrótszego
mierzalnego czasu zaniku, nie dłuższego niż 40 ps, gdyż w tych wynikach mówi się o 49.8
ps. Izba przychyliła się do argumentacji zamawiającego, że skoro jest ustalony powszechnie
stosowany wzór dla wyliczenia najkrótszego mierzalnego czasu zaniku i zamawiający
oczekiwał wyliczenia wartości omawianego parametru przy zastosowaniu tego wzoru, to
powinna być dobrana taka konfiguracja, która by wprost potwierdzała wymagany wynik
pomiaru nie dłuższy niż 40 ps. Odwołujący powoływał się na dokumenty, z których wynika, iż
mierzalny czas zaniku wynosi 49.8 ps, zatem można było uznać ten zarzut za przyznany
przez samego odwołującego. W informacji zawartej na str. 29 oferty - najkrótszy mierzalny
czas zaniku – wskazany został nawet na poziomie 20 ps, ale należy go rozpatrywać łącznie
z innymi wskazanymi tu parametrami tj. dla detektora zaoferowanego - 580 ps. Detektor 180
ps jest natomiast 3 razy szybszy od zaoferowanego 580 ps i dla takiego detektora byłoby
możliwe osiągnięcie 20 ps mierzalnego czasu zaniku. Przykład zaniku kurkuminy, 49.8 nie
gwarantuje, iż przy użyciu oferowanego urządzenia możliwy jest pomiar najkrótszego
mierzalnego czasu zaniku na poziomie nie dłuższym niż 40 ps.
W odniesieniu do wymaganego parametru 9 – główne funkcje oferowanego
urządzenia lasera UV-VIS-IR – spektralna rozdzielczość danych: nie mniej niż 0.1 nm,
odwołujący w formularzu oferty zaoferował ten parametr na wymaganym poziomie – 0.06
nm, tj. jest lepszym – od wyznaczonego minimalnego.
Z opisu przedstawionego na str. 15 i 16 oferty odwołującego wynika, że do punktu 9
powinny mieć zastosowanie karty katalogowe na str. 22 (Q73B, S-72B) oferty, które
stwierdzają w odniesieniu do QuantaMaster 40 „Rezolution 0.25 nm”, podczas gdy w opisie
zaznaczono, że do numeru katalogowego Q73B odnosi się parametr pierwszy, natomiast w
odniesieniu do parametru 9 odnoszą się karty katalogowe S73B i S 72B (str. 16 opisu).
Odwołujący przyznał w złożonych wyjaśnieniach, że do oferty załączył starszą wersję karty
katalogowej, a bieżące dane wskazują na rozdzielczość 0.06 nm, ale tej nowej karty nie
załączył. Zamawiający wymagał jednoznacznego stwierdzenia zarówno w opisie wykonawcy,
jak i w karcie katalogowej czy innych dokumentach producenta, które by takie wymaganie
według tabeli minimalnych parametrów - jednoznacznie potwierdzały. W odniesieniu do
parametru 9 na str. 11 oferty został przywołany numer katalogowy Q73B i pod to jest karta
katalogowa na str. 22. Z karty tej wynika, iż rozdzielczość spektralna „Resolution” jest
wskazana w wielkości 0.25 nm, zatem poświadcza to niezgodność z wymaganiem, bo
powinno być nie mniej niż 0.1 nm. Odwołujący oznaczył lepszy parametr 0.06 nm w ofercie,
a w katalogu parametr ten jest podany na poziomie gorszym tzn. 0.25 nm. Oferowane
urządzenie stanowi pewien system składający się z modułów. Jednakże jeżeli jakiś moduł
zostanie dodany to wpływa to na parametry całego systemu. W dokładnym opisie urządzenia
lasera wskazano Pico Master PreAmp z rozszerzeniami modułowymi Q73B i Q73D, odnosi
się do rozszerzenia oferowanego Q73B, do którego nawiązuje karta katalogowa
zamieszczona na str. 22, gdzie spektralna rozdzielczość (resolution) została wskazana w
wielkości gorszej niż wymagana i zadeklarowana (tj. 0.25 nm), a karty katalogowe
przedstawione na str. 24 i 26 dotyczą urządzenia Quanta Master TM40, które nie zawierają
oferowanego rozszerzenia Q73B, zatem nie mogą być odnoszone do potwierdzenia
wymagania z pkt 9 dla lasera. Specyfikacja producenta wskazuje rozdzielczość 0.25 nm
zamiast wymaganej 0.1 nm. Zamawiający nie otrzymał dokumentu potwierdzającego
rozdzielczość na poziomie 0.1 nm.
W odniesieniu do wymaganego parametru 7 – główne funkcje urządzenia
spektrofluorymetru – powtarzalność nastawy powinna być nie gorsza niż 0.1nm,
zadeklarowano poziom spełnienia „TAK; 0.1 nm.” Odwołujący w opisie własnym sposobu
spełnienia wymagań nie odniósł się do oznaczonych wprost oferowanych parametrów dla pkt
7, przywołał pkt 10 i określone w nim karty katalogowe S-73 oraz S-73B. Zamawiający nie
potwierdził, że opis pkt 7 i zawarte tam wymaganie jest tożsamy z opisem pkt 10 tabeli
wskazywanym przez odwołującego. Pkt 10 mówi o spektralnej rozdzielczości czyli jakości
wyniku badania, natomiast pkt 7 mówi o powtarzalności tzn. o tym żeby w tych samych
warunkach wyniki się nie różniły. Chodzi o to, żeby oferowana aparatura gwarantowała
stabilność wyników. Ani w opisie dla spektrofluorymetru nie ma odniesienia do pkt 7
powtarzalności nastawy, a w związku z tym nie wskazano również aby zaoferowaną wartość
parametru potwierdzały karty katalogowe producenta, gdyż podane specyfikacje producenta
odnoszą się do pkt 10 - czyli spektralnej rozdzielczości danych. Należało uwzględnić, że
zamawiający będzie badał różne próbki pod kątem zastosowań użytkowych, a kryształ
DYAG, w odniesieniu do którego odwołujący załączył do złożonych wyjaśnień – wyniki 5
powtórzonych kolejnych przebiegów badań dokonanych przez producenta – stanowi
substancję łatwą do mierzalności - według doświadczeń praktycznych zamawiającego.
Zamawiający chciałby mieć pewność powtarzalności wyników za każdym razem, o ile będzie
badany ten sam materiał, a nie tylko w przypadku 5 powtórzonych kolejnych przebiegów (na
łatwym materiale). Zamawiający przedłożył jako dowód w sprawie wydruk ze strony
internetowej producenta urządzenia - z informacją, iż powtarzalność nastawy wynosi 0.25
nm i z tych względów właśnie zwrócił się o wyjaśnienia. Dotyczyło to urządzenia Quanta
Master TM40 oferowanego przez odwołującego. Zamawiający miał zatem podstawy do
uznania, że wyjaśnienia nie potwierdziły deklarowanego parametru na poziomie 0.1 nm –
stanowiąc jeden z powodów odrzucenia oferty odwołującego. Mimo zadeklarowania
parametru w wielkości 0.06 nm specyfikacja producenta – na jego potwierdzenie, nie została
dołączona.
Według wskazań specyfikacji istotnych warunków zamówienia, obowiązkiem
wykonawcy składającego ofertę było potwierdzenie w tabeli wymagań - wymaganego
parametru i dokonanie jego opisu i dołączenie kart katalogowych - opisu producenta, które
by te parametry jednoznacznie potwierdzały, czyli wyniki pomiarów eksperymentalnych, czy
wycinkowych - nie były w ogólności dopuszczone na potwierdzenie parametrów.
Zamawiający nie miał obowiązku analizować przedstawionych wyników pomiarów, z punktu
widzenia chociażby ich kompatybilności z wszelkimi innymi stawianymi uwarunkowaniami.
Powodem odrzucenia oferty odwołującego była niezgodność treści oferty z treścią
SIWZ, w związku z czym odwołujący musiałby wykazać, iż w jego ofercie znajdują się
potwierdzone wszystkie wymagania graniczne, w tym kwestionowane, a w ocenie Izby –
odwołujący nie zdołał takich dowodów przeprowadzić.
Nie można było pominąć, iż zamawiający nie poprzestał na samych oświadczeniach
wykonawcy w formularzu oferty jako niewątpliwej treści oferty. Wymagał też opisów w pełni
zgodnych z deklaracjami spełnienia minimalnych parametrów gwarantowanych. Nadto,
potwierdzonych w materiałach producenta: kartach katalogowych, specyfikacjach wyrobu,
ofertach handlowych, prospektach, czy nawet w instrukcjach obsługi. Zamawiający
zobligowany był zatem weryfikować oferty w sposób jaki podał w specyfikacji, zarówno z
uwagi na treść oświadczeń jak i innych wymaganych dokumentów.
W związku z powyższym, zamawiający zasadnie odrzucił ofertę odwołującego, gdyż z
punktu widzenia postawionych wymagań, sposobu zaoferowania tych wymagań i sposobu
potwierdzenia spełnienia zaoferowanych wymagań określonego w specyfikacji, oferta
odwołującego nie odpowiadała treści SIWZ.
Brak potwierdzenia obligatoryjnie wymaganymi dokumentami (opisy producenta)
deklarowanych w ofercie właściwości przedmiotu zamówienia, kwalifikowany jest w oparciu o
art. 89 ust. 1 pkt 2 ustawy Pzp, jako niezgodność treści oferty z treścią SIWZ.
Dowody przeprowadzone w niniejszej sprawie nie wykazały zasadności czynionych
zarzutów naruszenia przez zamawiającego przepisów ustawy Prawo zamówień publicznych,
które miało istotny wpływ na wynik postępowania, tj: art. 89 ust. 1 pkt 2 ustawy przez
odrzucenie oferty odwołującego - za treść nieodpowiadającą treści specyfikacji istotnych
warunków zamówienia - odrzucenie złożonej oferty, w ocenie Izby znajdowało normatywne
wsparcie.
W tym stanie rzeczy Izba oddaliła odwołanie o czym orzekła na podstawie art. 192
ust. 1 ustawy Pzp.
O kosztach postępowania odwoławczego orzeczono stosownie do jego wyniku,
na podstawie art. 192 ust. 9 i 10 ustawy Pzp oraz w oparciu o przepisy § 3 rozporządzenia
Prezesa Rady Ministrów z dnia 15 marca 2010 r. w sprawie wysokości i sposobu pobierania
wpisu od odwołania oraz rodzajów kosztów w postępowaniu odwoławczym i sposobu ich
rozliczania (Dz. U. Nr 41, poz. 238).
Przewodniczący:
......…………………..
Wcześniejsze orzeczenia:
- Sygn. akt KIO 263/15 z dnia 2015-12-23
- Sygn. akt KIO 245/15, KIO 305/15 z dnia 2015-03-04
- Sygn. akt KIO 270/15 z dnia 2015-03-03
- Sygn. akt KIO 273/15 z dnia 2015-02-27
- Sygn. akt KIO 267/15 z dnia 2015-02-27
